本帖最后由 N-D-E 于 2015-1-11 19:04 编辑
2.7 Grating Lobes and Side Lobes 栅瓣和旁瓣
使用相控阵探头会产生的另一个现象是会生成不希望出现的栅瓣和旁瓣。出现栅瓣和旁瓣这两个紧密相关的现象是由于探头发出的部分声能以不同于主声程的角度传播造成的。旁瓣现象不仅限于相控阵系统,在使用常规探头时,随着晶片大小的增加也会出现旁瓣现象。栅瓣现象只会由相控阵探头产生,因为相控阵探头上距离恒定的单个小晶片会生成单独的声波,这些声波会导致出现栅瓣。这些不希望出现的声波会从被测工件的表面反射,并会使图像中出现虚假缺陷指示。晶片间距、晶片数量、频率和带宽都会对栅瓣的波幅有很大的影响。
图2-28比较了两种声束形状:在探头孔径近似的情况下,左图中的声束由间距为0.4mm的6个晶片生成,右图中的声束由间距为1mm的3个晶片生成。左侧图中的声束形状有些像锥形,右侧图中的声束在其中心轴两侧约30度方向生出两个多余的波瓣。
只要阵列中的单个晶片的尺寸等于或大于波长,就会产生栅瓣(晶片尺寸在半个波长和一个波长之间时,是否产生栅瓣取决于电子偏转角度)。因此在具体的应用中使栅瓣最小化的最简单的方法是使用小晶片间距的探头。使用特别设计的探头,如:将大晶片分割成较小的晶片,或改变晶片间距,也可以减少不必要的波瓣。 |