探头的入射点，真的在探头上么？

天才无忧 发表于 2013-3-10 15:12
真正的入射点其实是在工件表面，我们实际测得的入射点就是工件表面的。
不过耦合剂厚度都这么小，没必要这 ...

请问你实际测得的入射点在工件表面上，是怎么测得的？

这个问题比较复杂。当探头在试块上测试时的耦合剂层厚度与在工件上探测时的厚度一致时，情况会是怎么样，厚度不一时，又会怎么样。误差可能不同。

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入射点的意义：用来按声程和角度进行显示的定位。
严格讲，入射点并不是一个理论的点，因为声束具有一定的宽度，从而，实际入射点的具体位置并不重要。
在测量中为了简化，我们仅假设回波来自声束轴向上，故此时可采用简单的方法进行轴线中心线的入射点测量。

赞同丁老师的意见

谢谢李老师和丁老师

{:soso_e163:}

探头晶片发出的声波不是一条直线，而是一束波。检测时为了计算和定位方便而近似看成一直线在传播，入射点不在探头上，而是在被检工件上。

{:soso_e163:}

    通常说的“（斜）探头的入射点” ，是指有耦合剂的情况下，实测的入射点，一般是在IIW或CSK-1A试块上，在对应R100圆柱曲面上测定的，即根据试块上R100圆柱的圆心标定的。入射点虽然标在探头上，实则代表工件上相应的入射点。我常称这种方法为“刻舟求剑” 。所以，实测的探头的入射点，并不是探头(楔抉) 倾斜纵波声轴的真正入射点，或者说，实测的探头入射点，虽然标识在探头上，但实际并不在探头上。假如声束向左下倾斜，真正入射点应在实测探头入射点的右侧，二者有很小偏差P，P的大小与声束倾角和耦合层厚度有关。
    讨论这个问题的目的，主要想探讨耦合薄层，对倾斜入射纵波折射是否有影响，是否影响缺陷准确定位。