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直探头频率大小对锻件缺陷当量的影响
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直探头频率大小对锻件缺陷当量的影响
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wangjiabao
|
2013-4-2 08:47:26
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{:soso_e100:}
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显身卡
lfdafei
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2013-4-7 11:24:01
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那个波形就是缺陷啊
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lfdafei
|
2013-4-7 11:25:01
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你看看那是缺陷吗?缺陷还能变啊?你学过超声吗
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lfdafei
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2013-4-11 08:19:25
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是,您说的好,兄弟下次注意.{:soso_e181:}
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jianglicpa
|
2013-5-10 13:39:46
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频率对缺陷的定量不能有这样大的影响,不然对缺陷定量还有意义吗?看你用的是GE的探头,完全可以用探头自带的AVG,只是需要减去内孔散射影响。这比试块法又简单又准确。
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一弯馨月
|
2013-10-25 07:18:03
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{:soso_e160:}
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德德
|
2013-10-25 07:44:04
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{:soso_e163:}{:soso_e163:}
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kinhaw
|
2013-10-27 21:15:58
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频率越高,衰减越大,计算缺陷当量时考虑衰减问题了吗?
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yuwen
|
2014-1-2 23:42:02
|
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{:soso_e163:}
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﹏〆随哘灬▓
|
2014-1-6 14:24:04
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从理论公式上来看高频探头探出的缺陷应比低频大,探头频率直接影响探伤的分辨率和波的穿透力,对与锻件组织不均匀或晶粒粗大的情况穿透力较强的低频探头对于非组织引起的异常反射较为灵敏。但是一般情况下探头频率对当量的影响不应该会很大(除漏检情况外,由于半波长原因高频更灵敏)
我有3点疑问:1.换探头的同时曲线重做没有。 2.我看图片的波形不太像缺陷波(对幻像波排除没)3.图片上探伤部位为锻件侧壁,侧壁干涉会不会有影响.
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