直探头频率大小对锻件缺陷当量的影响

不知道大家有没有遇到过这种情况，锻件中的一个缺陷，2.5MHZ的直探头探测缺陷当量1mm不注意的话几乎看不到缺陷几乎被埋藏在杂波中了，改用2MHZ直探头探测非常明显的缺陷波，为2mm当量，1.25MHZ直探头探测为4mm当量，这是怎么回事，究竟以哪个探头来定量缺陷大小。请大家不吝赐教！


上图片，大家看下，现在究竟如何定量和定性缺陷，望高人指点。另外，探头在工件上左右移动时波形无明显变化。

锻件缺陷定当量 对于同一个缺陷来说用不同频率探头对缺陷定量不应该出现较大偏差（探头其它参数不变只改变频率），具体分析一下出现较大偏差的原因。
1. 频率改变后探头的近场区长度 跟 半扩散角 会发生改变  
因此 由于干涉影响近场区内存在声压极大极小值 三倍近场区以内计算法是不能比较的，同样由于半扩散角也改变如果缺陷所在位置不能被声束完全覆盖 那么也是不能比较的。
2.当缺陷频率改变后 超声波波长会发生改变 因为不同波长对同一个缺陷的透射能力会有差异 因此缺陷的性质也会影响缺陷波高低。
3.频率改变后声束直径会发生改变 因此当扫查靠近工件侧面缺陷的时候 不同宽度声束的侧壁干涉区域会不同 因此对声束能量影响是无法得到修正的 故不宜放在一块比较。
4.材料的晶粒大小对不同波长的超声波影响也是不一样的，就本工件来说可以暂且忽略。
5.以上讨论均是在理想状态下进行的 现在说一下探头 探头的标称频率不是单一的就一个固定频率 它是由一个范围内的不同频率合成的 而且低频的探头很难做！因此你能保证你所用的探头频率偏差不大吗？（国产低频探头实在不敢恭维）。
就以上几点放到本工件上来看我想影响最大的应该是侧壁干涉 跟所选对比低频探头的质量  
此工件要定量还是用对比试块较为妥当
以上为个人愚见 请各位前辈指正

一般探头的频率决定了可探测到缺陷的最小尺寸。如你所用的2.5M探头可检测到的最小尺寸约为半波长1.18mm 当量大小的缺陷；2M约为1.5mm;1.25M约为4.72mm;所以你观察到的情况，还是符合实际情况的。
所以判定缺陷大小需要用参考试块进行比较。一般用2.5M探头，fai2 当量的参考试块进行定量就可以了。

明天上缺陷波形图

锻件需要用这么低频的探头吗

这个不一定的，要看锻件的大小，晶粒组织

你都做avg/dgs曲线了吗？

在满足信噪比或分辨力、灵敏度的情况下，以较高频率定量要约为准确一些；遇到晶粒粗大，才考虑更换频率较低的探头检测。

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图片改到主贴了，望大家不吝赐教。

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