JB/T4730.3（超声）讨论区

关于JB/T 4730.3-2005中有关缺陷测高方法的疑问

  附录I上给出了三种缺陷测高方法，分别是：端点衍射波法DW、端点最大回波法DE、6dB法。其中在端点衍射波法中还特意将DW和DE加以区分，如示意图I.4上端点衍射波法DW在端点最大回波法DE之后出现。

所以我有了这么一个疑问，烦请各位专家关注：即在缺陷端部声程位置唯一的情况下，两者在显示屏幕上的位置不一，这是否说明衍射波DW的声速与横波DE的声速不相同？如果两者在显示屏上位置相同，那这两种测高方法是否还有区别？

“上端点衍射波法DW在端点最大回波法DE之后出现”，“这是否说明衍射波DW的声速与横波DE的声速不相同？”
回答：不是声速问题，是衍射点与反射点不一致造成的。

同意强总的回复。JB/T4730.3附录I图I.4，说明紧邻端点，缺陷有粗糙凸凹处，具备反射条件。这说明:端点衍射法可靠，而端点反射法是否产生，要视端点粗糙凸凹情况！我原来坚持的观点:有端点，则有反射。看来错了！！

李济科 发表于 2012-2-16 16:03
同意强总的回复。JB/T4730.3附录I图I.4，说明紧邻端点，缺陷有粗糙凸凹处，具备反射条件。这说明:端点衍射 ...

感谢两位专家的指点，那应该是附录I的图I.4画得有些不是很好，要是能在端点附近稍微粗糙一点就好说明了。一个是反射面，最高波一般都不会处于端点，另一个是衍射的端点，位置唯一。不知道我这样理解对不对？

谢谢您提出了有价值的问题。是的，您的理解，和我相同。

JB/T4730.3第3.3.2扫查覆盖率  为确保检测时超声声束能扫查到工件的整个被检区域,探头的每次扫查覆盖率应大于探头直径的15%.

条文中的“探头直径”应修改为“探头晶片直径”。

探头晶片尺寸与有效声场的分布仍有差别，建议更改为确保有效声场10%以上的重复！

楼上提到有效声场，那么对实际操作者来说有效声场到底有多大呢，直径20的直探头的声场是多少呢 操作起来是不是不太实际呢？求解答

有效声场是在检测前由检测人员测试的结果。有效声场的直径与声程有关。如果不进行必要的测试、探头的性能如何不进行控制，这样的检测结果可信吗？

          关于超声波探头需要讨论的问题很多！我国的超声波探头和欧美的有很大的差距，深入探讨可以帮助我们理解国外同类标准的验收部分，检讨我们超声波检测的不足！