双晶探头的表面补偿问题
本帖最后由 wjjxuey 于 2012-7-20 09:40 编辑大家知道,普通直探头,斜探头(单晶)表面补偿的测定方法一般是采用一发一收,选择多次反射接收,然后制作DAC,在工件上再实测,看回波与DAC的高度的dB差。
但现在问题来了,双晶探头的表面补偿如何测量呢?个人理解是直接在试块(不同厚度,至少3个深度覆盖检测厚度,总的深度在该探头的菱形区内)上同样制作DAC,然后在工件上回波与DAC的回波幅度dB差?这个方法可靠?
试块是两面光的,工件如果两面都不光(例如铸件喷丸状态),按上述方法测得的分贝差是否就是我们要的表面补偿值呢?要不把分贝差除以二。真想拿个试块去喷丸,对比一下。还望各位指教。 SECTOR CERT培训教材DIN EN 473 超声部分含有该内容! 我查了一下,教材上没有相关的介绍。没有人回答吗? 在无探头DGS曲线的前提下,该方法可行!但需注意有效覆盖声程范围! 谢谢丁工。。。 实际操作就是这样校验标准试块的,你的抛物线画反了。 看看DAC的定义不就什么都知道了么
其实每本教材上都有 你没看懂而已 闻道有先后,所以才不耻下问。。。 同样厚度的问题不大,不同厚度的呢? 严格来说是应该这样,但实际情况有几家是这样做的?包括您自己?纸上谈兵谁都会,但理想是丰满的,现实是骨感的。应该在现实和理想中找到最佳的平衡。。。