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我的回复:

第一，标准条款6.3.3.3.1实际上更多的是指CSK-2A之类的试块。CSK-1A为标准试块,用其测试探头的参数一般不受工件的直径影响（只要探头能和工件接触良好，且探头未经磨制）。也就是讲1A试块作为基本校准用时适用范围可以更大一些。经过沿长轴方向磨制的斜探头，可以考虑GS试块。GS试块针对沿轴向检测，但是没有沿周向检测（检测纵向焊缝）的试块及要求，沿周向检测经过磨制的探头实际上也可以在1A试块上调校的(笔者实际测试过)。标准是参考了直径大于500，可以用平面代替曲面这一条，缩小了1A试块的使用范围。从严谨方面，的确更加可靠。但是也缩小了试块的适用范围。而采用1A标准试块和曲面对比试块对直径500以下的工件，只要满足GB11345 探头和工件接触间隙要求，检测没有什么问题的。GB11345也是这样去做的（我记得是这样的，但这个你要去查证一下）
总之，1A试块时标准试块，标准试块只要实际检测当中能够满足使用要求，没必要做出限制。而对比试块是需要做出限制范围的，因为它涉及到缺陷定量，定位。当采用1A试块调校合格后，还可以用曲面对比试块进一步修正探头零点、前沿、K值，使得检测结果更加准确。限制标准试块的适用范围，似乎有点不合情理。
    因为，标准试块还有一个功能评定和校准超声检测设备，即用于仪器探头系统性能校准。实际检测之前，理应使用经过评定和校准的超声设备及探头组成的检测系统,该系统的评定和校准就是使用1A试块进行的。针对焊缝超声检测,标准试块可只有这一个。GS试块(将IA试块部分功能与对比试块合二为一进行设置)和其它对比试块虽然也具备这个功能，但是它毕竟不是标准试块，所以评定和校准的严谨一致性是值得商讨的。标准这里很可能是抄ASME，结果误将1A试块与对比试块并列了。实际上两者的定义和使用目的均不相同。虽然一般情况下都是先校准，后在对比试块上作DAC曲线。但两者的使用是有严格的区分的。
标准4.2.3竟然明确区分了标准试块、对比试块，笼统讲1A试块和对比试块适用于检测曲面直径大于等于500mm的焊接接头超声检测，从逻辑上是不够严密的。而且也没有必要。唯一合理的地方，就是编者试图表明直径大于500mm的可用平面代替曲面这一理念。
所以6.3.3.3.1要么将1A试块单独限定范围，要么将标准试块从该地方拿掉，避免引起混淆。

其实这个问题，考三级的时候，很多学员问过老师。但是没有明确的回复。
标准试块和对比试块的使用其实有些混淆。而且超声的标准试块只这一块，你让处于GS试块和CSK-1A试块之间的，以及直径在159至500mm工件均很为难。一个可以代替标准试块的部分功能,并且标准试块在这种情况下较难评定和校准,另外一个难道要直径159-500mm工件检测重新设计制作标准试块？
    如果是单纯的测探头零点、前沿和K值，有的对比试块本身就可以做到，用不用IA试块似乎都可以。但从标准的条款当中，可以看出采用标准试块进行评定和校准，是具有权威性、一致性的做法。

CSK-IA 试块使用示例
实际上从流程上，首先确定检测仪器和对应探头是否经过周期性校准和评定，是否在有效周期内，如无应该先用CSK-1A 标准试块验证超声波仪器和对应探头的垂直线性和水平线性以及屏高控制线性（有些计量标准允许采用信号发生器之类代替探头单独测试仪器，实际上这和具体探头及探头线及检测仪器组成的检测系统是有差别的），然后才涉及到后续的检测调节。这也是标准试块第一次被用到。在实际检测前，按4.2.5.4.2应该再次用1A标准试块对整个检测系统进行评定和校准，评定和校准可以只验证探头零点、前沿、K值等，然后才是用对比试块制作曲线。在实际检测过程当中，连续工作四小时或结束时还要核查仪器和探头系统（4.5.6），扫描量程的复核似乎还是要用到CSK-1A试块，灵敏度复核可以用对比试块进行。

    标准试块其实还有一些其他使用，比如直探头垂直线形和水平线形测试，直探头斜探头远场分辨力测试等，这里不再详述。

PS：只要钻的比较深的技术爱好者，才会提出像样的问题。很多人不缺乏聪明才智，缺的是钻研精神。这在年轻的一辈上面，尤其明显。只求答案，不求解决的过程，会让自己失去提出更好问题，并深入学习的机会。

其实提出好的问题，说明这个朋友钻的比较深。为他点个赞！

以前有个古人，讲好读书不求甚解，大家只记住前面这句，并深以为是。对于后面紧接着的那句：每有会意，便欣然忘食，就记不住了。
要不是问的问题好，我也不就在这里回复了！
很多名句，其实都有上下文的。片面的解读名句，其实是值得商锥的。

 将原第二个问题删除，以便主题更加突出