双晶探头的表面补偿问题

大家知道，普通直探头，斜探头（单晶）表面补偿的测定方法一般是采用一发一收，选择多次反射接收，然后制作DAC，在工件上再实测，看回波与DAC的高度的dB差。

但现在问题来了，双晶探头的表面补偿如何测量呢？个人理解是直接在试块（不同厚度，至少3个深度覆盖检测厚度，总的深度在该探头的菱形区内）上同样制作DAC，然后在工件上回波与DAC的回波幅度dB差？这个方法可靠？

试块是两面光的，工件如果两面都不光（例如铸件喷丸状态），按上述方法测得的分贝差是否就是我们要的表面补偿值呢？要不把分贝差除以二。真想拿个试块去喷丸，对比一下。还望各位指教。

SECTOR CERT培训教材DIN EN 473 超声部分含有该内容！

我查了一下，教材上没有相关的介绍。没有人回答吗？

在无探头DGS曲线的前提下，该方法可行！但需注意有效覆盖声程范围！

谢谢丁工。。。

实际操作就是这样校验标准试块的，你的抛物线画反了。

看看DAC的定义不就什么都知道了么
其实每本教材上都有 你没看懂而已

闻道有先后，所以才不耻下问。。。

同样厚度的问题不大，不同厚度的呢？

严格来说是应该这样，但实际情况有几家是这样做的？包括您自己？纸上谈兵谁都会，但理想是丰满的，现实是骨感的。应该在现实和理想中找到最佳的平衡。。。