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标题: 关于RT底片外观缺陷处理的讨论 [打印本页]

作者: 9100gf 时间: 2022-5-20 12:01
标题: 关于RT底片外观缺陷处理的讨论
首先，若能够确定底片上的影像为外观缺陷，然后，若能够确定该影像不影响其他缺陷评定的情况下：是否可以由射线部门发起外观缺陷的NCR，技术部门给出外观缺陷的处理意见，修磨消除该缺陷后进行MT或PT检测。最终关闭该NCR。这样的话，可以避免由外观缺陷导致射线大量的复拍工作。
大家对此处理程序有何意见呢？

作者: cyz 时间: 2022-5-23 09:12
理论上是行得通的，但是外观检验是上一工序，工序质量很重要，这是一判不清的官司！

作者: 9100gf 时间: 2022-5-23 11:10

cyz 发表于 2022-5-23 09:12
理论上是行得通的，但是外观检验是上一工序，工序质量很重要，这是一判不清的官司！ ...

外观检验是上序没错。
但是，工序进行至无损检测发现外观缺陷这种情况。开出的NCR可以是外观检验漏检等原因。那么，关闭该NCR的方法可以是通过外观检验或表面检测。
我的意思是：未必是RT发现的外观缺陷就一定要通过RT去关闭。

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