关于4730标准中不同透照方式选择像质计的疑问

关于4730标准中不同透照方式选择像质计的疑问

4730标准中，对不同透照方式给出了不同的表格选择数据。比如；卷板完成的纵缝，筒体长1000mm，母材厚度为8mm，如下图所示，分别采用单壁单影和双壁单影法。但是，如果筒体的直径过小（小于500mm），那么内部是无法进行单壁透照的。所以，只能采用双臂单影法。

但是，二种不同的透照方式在选择像质计方面都是一样的，都是13号丝径。根据相对灵敏度的概念，用公式：

          K=d/Tx100%  单壁时，K=2.5%；双壁时，K=1.25%。可见，双壁透照的相对灵敏度是为单壁时的一半，但是，确要求二者透照时都能检测出0.2mm大小的缺陷，对双壁透照是增加了难度，可能像质计无法达到要求。但是这点在4730中，没有给出说明。

那么，我看了一下ASTM E1032标准。在标准中：

8.14.1  单壁透照技术

    除了8.14.2和8.14.3规定以外，都应采用单壁透照技术。

8.14.2 环缝的双壁透照技术

    对于外径小于89mm的环焊缝，应使射线穿过双壁在同一底片上成影像。除了特殊规定外，可以使用椭圆成像技术或垂直重叠透照。

8.14.2.1 对于椭圆成像技术，至少应进行互成90度的二次曝光。

8.14.2.2 当由于设计或结构等原因限制时，无法形成椭圆成像时。合同中一定要规定必要的焊缝覆盖率。

8.14.2.3 垂直透照时，至少应进行0,60,120度的三次透照。

8.14.3 对于结构限制，无法进行单壁曝光的，比如套管。所使用技术应在业主和采购方提前认同的情况下使用。一定要意识到，基于单壁厚度选择的IQI灵敏度可能在某种情况下无法达到。

可见，标准中意识到双壁透照时，可能无法达到相应的像质计要求，那么为什么还要这样规定那？

并且，对于环焊缝检测时，使用双壁单影技术，截面尺寸变化太大，为了增加底片的宽容度，采用高电压，短时间的曝光方式。但是根据对比度公式，射线能量越高，线性衰减系数越小，这样底片对比度越低(虽然宽容度加大)，这样是不是对于这种双壁单影透照技术条件过于苛刻。

以上只是个人浅薄的理解，希望论坛老师指导。