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[官方发布] 2018远东大会特邀报告Abstract and Bio Zoughi(中文译版)

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yuandong实名认证 发表于 2018-3-26 11:26:40 | 显示全部楼层 |阅读模式 打印 上一主题 下一主题
 
微波和毫米波成像的发展:从近场到3D实时成像技术,
在无损评价中的应用
Reza Zoughi
微波应用无损检测实验室(amntl)
电气与计算机工程部门
密苏里大学科技科研
64509美国密苏里大学
(573)341-4656
       微波和毫米波信号的频率范围为300兆赫到300千兆赫,对应波长范围为1000毫米到1毫米。这些频率的信号很容易穿透电介质材料和复合材料,并与内部结构相互作用。在电介质材料和复合材料内部,与内部结构相互作用。与这些信号相关的相对较小的波长和宽的带宽能够产生高空间分辨率的材料和结构图像。结合透镜聚焦和近场技术等成像技术,合成孔径聚焦,基于更先进和独特的毫米波成像系统的鲁棒反向传播算法的航空摄影方法,带来了这个领域的一系列活动,特别是无损评估(NDE)应用。这些成像系统和技术已成功地应用于广泛的关键无损检测相关的应用。
       尽管近场技术在过去也被广泛地应用于这些应用中,但由于改变了距离和图像制作过程的缓慢性,导致了一些新颖的、自动的距离变化消除技术。最终,成像技术必须产生高分辨率的3D图像,成为实时的,并使用便携式系统实现。为此目的,为了加快成像过程,同时提供高分辨率图像,几年前演示了一种由576个共振槽元件组成的6“6”单镜头快速便携式成像系统(微波摄像机)的设计和演示。随后,人们致力于设计和实现这种成像系统的几种不同的变化,以适应单边和单声道静态成像,同时利用非均匀快速扫描对象,以及将工作频率提高到更高的毫米波频率,从而实现三维图像生成。这些努力已经开发出一种实时、便携、高分辨率和三维成像微波摄像机,其工作在最近完成的20-30 GHz频率范围内。本文介绍了这些技术的概况,并列举了几个典型的例子,这些成像技术有效地为许多关键的NDE问题提供了可行的解决方案。

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       R. Zoughi获得了他的电机工程学士学位,电机工程学硕士和博士学位,他在美国堪萨斯大学电子工程(雷达遥感、雷达系统和微波)的电气工程专业博士学位,从1981年到1987年,他都在雷达系统和遥感实验室(RSL)中工作。随后,在1987年,他加入了科罗拉多州立大学(基社盟)的电气和计算机工程系,在那里他建立了应用微波无损检测实验室(amntl)。1995年至1997年期间,他在基社盟任职,担任电子与计算机工程专业教授。2001年,他加入了密苏里科技大学的电气与计算机工程系,前身为密苏里大学罗拉分校(UMR),作为斯伦贝谢公司的特聘教授。他现在的研究领域包括以下几方面:
(1)为微波和毫米波测试和评估的材料开发新的无损技术;
(2)开发新的电磁探针和传感器测量特征属性的材料在微波频段;
(3)开发嵌入式调制散射取决于目的的技术和实时高分辨率成像系统的发展。
       他是《微波无损检测和评估原理》的作者,并在一本名为“非破坏性评价:理论、技术和应用”的本科生入门教科书中,合著了一章关于微波技术的文章。他在基社盟和密苏里科技大学获得了无数的教学奖项。他是超过590篇期刊论文,会议记录,演讲和技术报告的合著者。他在微波无损检测和评估领域拥有18项专利。他是2007年IEEE仪表和测量学会杰出服务奖的获得者,2009年美国无损检测协会(ASNT)的持续卓越研究奖,以及2011年IEEE Joseph f.Keithley在仪器和测量方面的奖项。在2013年,他和他的合作者们获得了美国电子与工程学会的电子和传播学会(APS)的论文,该奖项与24 GHz的实时微波相机的设计有关。他是美国电子与电子工程师协会(IEEE)的研究员,美国无损检测协会(ASNT)的成员,并担任IEEE测量与测量(2007-2011)和IEEE仪表测量学会(2014-2015)的主席。目前,他是IEEE国际仪表和测量技术会议(I2MTC)的主席。他曾任职于IEEE技术活动委员会(TAB)出版物服务与产品委员会(PSPB)(2015年,2017-2018),被选为一个大型的IEEE PSPB成员(2016-2018),并且是IEEE Xplore平台指导小组的成员。
(译者注:可能有翻译的不到位的地方,烦请谅解,原文见附件)

2018远东大会特邀报告Abstract and Bio Zoughi.pdf

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哎哎哎
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