相控阵技术学习帖

2018.1.9
读ASME V卷四章附录P，介绍了图谱的识别，好的信息摘录，PAUT采用彩虹调色板显示数据。对于聚焦法则的更好的解释，由一个特定设置下所有A扫描的组合。测量方法上，未介绍独特测试方法，测长、测高可采用dB法，另测高还可以采用衍射法，方法同A超，找到扇扫内缺陷，参考A扫描。典型缺陷的分析，主要也是结合位置信息，参考A扫描信息。结合脉冲上升下降持续时间，区分面积型及体积型。
附件为李衍老师的一篇文章，主要为ASME V卷内容，也是读了这个文章后，查找原文重新看了一遍。ASME引用文件SE-2700内容较全，方法部分介绍较多，后续读完继续整理。