[讨论] 相控阵

[复制链接]
查看5324 | 回复3 | 2017-6-10 10:24:36 | 显示全部楼层 |阅读模式
本帖最后由 xldw89sy 于 2017-6-10 10:24 编辑

     改行回家了,但还是对这个技术很留恋,毕竟花了很多的心力学习。有几个问题一直在心中,这半年都在想别的,没时间学习相控阵。就把以前想的几个问题列出来,分享给大家。这项技术前景肯定很好,值得大家用心研究。
   1、效率,要提高效率就得增加扫查率,扫查率受到脉冲发射频率的限制,脉冲发射频率由最大角度声程决定,根据检测对像、方法的不同都会存在最大扫查率。
   2、角度步进,角度步进如果转换成扫查步进就很容易发现问题。角度步进是等值的,但是由于声程的增加,扫查步进是在不断增加的。
   3、聚焦,有篇文章写过聚不聚焦的问题。举个例子,5L64的探头,用16晶片,能实现聚焦的范围非常小(书上写过最佳聚焦范围在0.2N—0.8N)其他范围的聚焦都是没用的,和相应角度的斜探头一样,都算是平面的晶片,没有聚焦作用。有条件的可以用试块(专用)去验证,焦点波幅最高,是一个向下开口的抛物线。如果要利用聚焦这一特性,必须要考虑晶片尺寸,频率,检测声程范围。特别要记住0.2N—0.8N这个范围,好像有些模拟可以聚焦到这个范围之外(没有验证过,也可以我看错)。
   没考虑好,就想到这三个方面。问题1,以前想过多组来提高效率;问题2,用二次波覆盖,二次波不同角度间间距有多大,会引出哪些问题;问题3,聚焦点能量集中,但我们要用的声程范围如果大于焦点正负6dB的范围,有没有问题。对于声程跨度比较大的,增益补偿够不够,用合理的聚焦能不能解决?

   还有扫查架对特定结构,检测工艺等。
为人民服务 | 2017-7-30 12:04:33 | 显示全部楼层
看完了你写的帖子,非常赞。兄弟你不干了,NDT行业又少了一位人才!
学好无损检测技术,天天向上!
ff99998888 | 2020-7-20 17:11:55 | 显示全部楼层
看完了你写的帖子,非常赞!
lin26133887 | 2022-7-4 17:01:09 | 显示全部楼层
看完了你写的帖子,非常赞!
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则