超声探头入射点“变化”来回答其“入射点”不随材质而...

附件内容为一篇关于常规探头入射点随材质变化而变化的探讨。内容观点个人赞同，同时也学习了。但是我想讨论的是何为实际检测过程中真正需要的“入射点”（前沿）。论文中提出的“理论入射点”是不随材质变化的，通过试验测试，基于声场特征，测试出的“实际入射点”随材质变化而变化。针对文章提出的“实际入射点”变化，个人人为是因为测试方法引起的变化。材质变化，尤其粗晶粒材质，会引起声束的偏转，而设备在CSK-1A试块上测试时是接收到R100半圆弧的反射回波，而非探头入射波的在检测表面的“起点”。这样入射波和反射波存在偏差，而仪器是接收反射波，且根据反射波计算出的入射点。所以，文中提出“实际入射点”是变化的。而在实际检测时候，同一材料，不同厚度、深度导致的声束偏转程度是不同的，R50测量一个数值，R100测量有一个数值，这样导致“入射点”对于同一种材质检测不同深度的缺陷时候，产生了“漂移”，那样“入射点”在实际检测时候就失去了意义。因此，个人想法：以"不变"应对“万变”。既是在均匀的材质中测试入射点，将入射声束与反射声束尽量重合，这样仪器测出的“实际入射点”与“理论入射点”基本一致。避免其因材质厚度不同引起的差异变化。
疑问1：对于文中提出入射点变化，个人观点是用同一材质R50,R100,R150测出的入射点都会不一样，有差异。因此，文中的讨论仅限于用CSK-1A试块R50测试的不同材质探头入射点的变化，而不能扩展到普遍条件都这样。
疑问2：关于”探头入射点“这样一个”小“问题在这里讨论这么多实在不应该，可能是个人水平或者思考的思路存在问题，但是为了解决疑惑以及与志同道合的同行们一起学习、讨论，这几天抛出来了这些问题，因此欢迎讨论。

探头参数的测量应按照相应的标准在特定试块指定反射体上进行测量，包括入射点！本文的探讨也不是没有意义，其从另一方面说明了探伤基本标准的重要性！

丁伟臣 发表于 2017-5-8 19:48
探头参数的测量应按照相应的标准在特定试块指定反射体上进行测量，包括入射点！本文的探讨也不是没有意义， ...

丁老师，您也谈谈您的看法。现在讨论的都是标准不适用或则对标准的理解出现分歧的地方。还望赐教。

标准问题需要从标准制定修改下手！关于探头的参数测定必须有明确的规定，避免不必要的误解！

阅读这篇论文后后，我认为有句话是解决问题的关键，“探头接收到的信号是所有回到晶片的声线能的效应总和，因此探头的声束中心线对准圆心时，不一定能接收到最强的反射信号。”


这句话我要提两个问题
第一个问题：“回到晶片的声线”，具体是指多少角度的声线？
第二个问题：“效应总和”，什么是效应总和？


我的答案
第一个问题：回到晶片的声线应该是包括中心声束、上扩散角某些角度的声束、以及下扩散角某些角度声束。这个问题，论文中没有明确指出。
第二个问题：效应总和，应该是指上述这些声束发生干涉后的总和。


所以要解决您的第一个问题，就要弄清楚具体是怎样的干涉情况。但是这个干涉情况不要定量测量，要解决您的问题，从实验方面着手更容易找到答案。