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[讨论] 关于超声检测中的扫查覆盖率的讨论

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发表于 2017-3-14 00:12:35 | 显示全部楼层 |阅读模式
标准NB/T47013-2015第4.5.2条关于扫查覆盖的规定:为确保超声检测时,超声声束能扫查到工件整个被检区域,探头的每次扫查覆盖应大于探头直径或宽度的15%或优先满足相关章节的检测覆盖要求;其他超声检测标准如GB/T6402-2008关于扫查覆盖率的规定,也大致差不多都是规定为探头直径或宽度的10%或者是15%;问题一:如果按照标准规定的扫查覆盖率,进行100%扫查,比如用GE的B2S探头(晶片直径Φ24,频率2MHz,扫查间距为20mm,扫查覆盖率=(24-20)/24=16.6%≥15%)是否就不存在漏检?问题二:标准关于扫查覆盖的规定是否严谨?问题三:如果存在漏检,如何从工艺上规避这种情况?
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发表于 2017-10-11 13:17:12 | 显示全部楼层
应为探伤主声束的覆盖,不是晶片尺寸覆盖
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发表于 2017-7-8 22:26:43 | 显示全部楼层
本帖最后由 王绪军 于 2017-7-8 22:27 编辑

ASME成立于1911年,我相信他对超声波检测原理的理解!!!!!

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发表于 2017-3-14 11:09:03 | 显示全部楼层
周大湿我是这样理解的,标准规定的只是说这样覆盖率达到了100%,覆盖率达100%并不能保证肯定不漏检,漏检的因素很多,覆盖率只是其中之一。
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发表于 2017-3-14 11:20:21 | 显示全部楼层
个人理解,如果是锯齿型扫查,只是最大扫查间距为15%,其他位置都大于15%,应该能满足声束的覆盖
健康身体是基础,良好学风是条件,勤奋刻苦是前提,学习方法是关键,心理素质是保证。
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 楼主| 发表于 2017-3-14 16:25:27 | 显示全部楼层
1154850602 发表于 2017-3-14 11:09
周大湿我是这样理解的,标准规定的只是说这样覆盖率达到了100%,覆盖率达100%并不能保证肯定不漏检,漏检的 ...

这里所谓的漏检 不是只因技术局限性的原因而未检出 是指因工艺原因导致的漏检
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发表于 2017-5-8 16:56:58 | 显示全部楼层

看下B2S的声束图,来回答这三个问题
1.只能保证有效尺寸的全表面扫查,不能保证工件内的全体积扫查
2.不是很严谨
3.进行声束最小宽度扫查,能保证全体积扫查
个人观点,仅作参考

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 楼主| 发表于 2017-6-16 00:01:55 | 显示全部楼层
关于扫查覆盖率的问题已经有同行回答了,个人再总结一下:1 按标准规定的扫查覆盖率,用B2S检测肯定会有漏检;2 标准规定的扫查覆盖率很不严谨 :个人觉得这样规定应该更严谨:相邻两次扫查之间至少能保证工件被检区域内最小声束宽度15%(或10%)的重叠。3 在检测前应实测最小声束宽度,并按最小声束宽度的扫查覆盖率进行扫查
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发表于 2017-7-7 19:51:01 | 显示全部楼层
上面的结论,需要大量的实验验证其正确性!!!
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 楼主| 发表于 2017-7-7 21:48:42 | 显示全部楼层
王绪军 发表于 2017-7-7 19:51
上面的结论,需要大量的实验验证其正确性!!!

超声检测的覆盖是超声场的覆盖,换句话说也就是声束的覆盖 而不是探头尺寸的覆盖 完全是两个概念。无需大量试验 用一个B2S或者B4S 探头 加上一个近场区距离埋深的平底孔试块即可验证
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发表于 2017-7-8 18:59:02 | 显示全部楼层
没有探头尺寸大小,哪有超声声束的的大小呢?声束最小宽度与探头尺寸大小和频率等是有关系,GE探伤手册有很多图。ASME规定至少晶片尺寸的10%,我国修改为至少探头尺寸的15%,但是ASME后面还有,我们没有抄袭全面。awsd1.1直接要求50%。要推翻现成的理论,需要大量的实验数据,不能够信口开河。
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