国际著名无损检测专家Uwe Ewert应邀担任2017远东无损检测新技术论坛学术委员会主席,同时应邀在开幕式上作大会报告。
Uwe Ewert是射线检测领域理论权威和技术开拓者,多年来引领射线检测技术发展的前沿,为胶片射线照相技术的完善和数字射线照相技术的发展做出巨大贡献,主持和参与了多个射线检测标准(DIN、EN、ISO、ASTM)的起草。
U. Ewert简历 U.Ewert博士 1979年获得洪堡特大学物理和理论化学博士学位,论文题目是《用于模拟复杂化合物的电子自旋共振谱》; 1989-1990年在美国康奈尔大学贝克实验室(Baker Laboratory)担任客座教授; 2000年在德国材料科学院(BAM)的“无损检测-射线技术部”担任主任及教授; 德国无损检测学会射线专业委员会主席; 德国无损检测协会(DGZFP)咨询委员会成员; 国际焊接学会焊接接头射线检测学术委员会(VA)前主席; 先后担任过国际标准委员会(ISO)、欧洲标准委员会(CEN)、美国材料学会(ASTM)的成员或主席; 2005获得德国无损检测协会(DGZFP)的Berthold奖; 2009年获得德国联邦政府的伦琴(Röntgen)奖章; 2010年获得美国材料协会(ASTM)国际布里格斯(Briggs)奖; 2016年获得英国无损检测学会(BINDT)夏普(Sharpe)奖。
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