双晶直探头检测产生伪缺陷

使用一个100mm×50mm的试块进试验。如下图，真实缺陷为50mm，伪缺陷在75mm左

底波后面存在两个伪缺陷:底波100mm          伪缺陷125mm           伪缺陷150mm

伪缺陷在试块检测时间隔距离为25mm左右。

我分析了下：双晶探头由发射和接收单元组成，发射和接收单元都存在延迟块。在零点校准时，我们会把延迟块的延迟时间校准过来。但是如果延迟块和被检测物界面发生二次反射，这样就会引起伪缺陷。如下图：

蓝色线表示延迟块和被检测物界面二次反射声程；
橙色线表示延迟块和被检测物界面三次反射声程；
声程计算方式：s = t. v
超声检测试块里的v = 5900m/s，而延迟块中的真实速度却是v0=2700m/s。已知伪缺陷的间隔是25mm，我们可以计算出延迟块的厚度h0：
h0=t .v0;
t=s/v;
h0= v0 .s/v=11.5mm

跟大家交流一下

图文结合，分析的很有条。只是有两点疑问：
1、用的是100mm*50mm试块，根据你的仪器显示，探头打的是100mm深度，那么宽度是50mm。底波（100mm）后面的波（125mm、150mm)也可能是侧壁回波；
2、已知缺陷信号（50mm)的波高为45%，75mm处波高8.8%，相差5倍。在探头延时块内反射一次。底波（100mm)波高105%，125mm处波高20%，也是相差5倍，为探头延时块内反射一次。按照您的推理，150mm处回波为探头延时块内的二次反射，那它应该是（125mm）处信号波高的五分之一，与显示不符。

xldw89sy 发表于 2016-8-12 22:10
图文结合，分析的很有条。只是有两点疑问：
1、用的是100mm*50mm试块，根据你的仪器显示，探头打的是100mm ...

你说的有道理，
第一个问题：可以用一个100mmx100mm的试块对比下。
第二个问题：刚开始没注意到这个问题，分析发现，150mm处的伪缺陷和50mm处的缺陷二次回波重合了所以能量没有衰减。好问题~
图片是没有缺陷时的底波

xldw89sy 发表于 2016-8-12 22:10
图文结合，分析的很有条。只是有两点疑问：
1、用的是100mm*50mm试块，根据你的仪器显示，探头打的是100mm ...

侧壁回波干扰会很厉害么？我对这个没有概念。下图是我用单晶探头在100mmx50mm试块上做的实验，在142mm处有回波，这个是侧壁回波干扰吗？

M2M_NDTengineer 发表于 2016-8-13 14:43
侧壁回波干扰会很厉害么？我对这个没有概念。下图是我用单晶探头在100mmx50mm试块上做的实验，在142mm处 ...

这个应该是。特种设备教材上找到的