关于斜探头K值

“波束与被检缺陷平面相垂直时，反射效果最好，最有利于缺陷的检出。”
刚做超声的时候，发现实际检测和理论检测还是有很大区别的。一开始发现有很多探头的实测k值和标称值不一致。后来听同事说，这很正常。厂家批量生产的探头，不可能有很高的精确度，都会有一定量的偏差。所以在调机器的时候，每次都需要测试实际的k值再做曲线。后来做得多了，发现k值超过正-2度，照样还可以用。但是标准规定，如果实测K值超过标称K值正负两度，就不能再用（不是标准原文，因为同事都说K值变化超过两度，一是磨探头，一是丢弃，所以认为是不能用）。一直对这一句话不太理解。一开始认为，如果超过正-2度。可能波束与缺陷的角度会有较大的变化。导致反射效果急剧下降，造成漏检。后来随着对超声波束的认识加深。发现这一解释不符合实际。超声波束会有一定的上下扩散角。假如某一缺陷与70度波束垂直，实测为68度的波束会有70的上扩散角与缺陷垂直。因为是扩散角检测到，波高会低一些。但不会没有反射。

后来查找资料，发现探头角度也不是固定的（刚入行的菜鸟，以为就标准规定的几个探头）。现在我们公司做的产品，都是用45、60、70度的探头。其他行业有以K值标称的1、1.5、2、2.5、3等。看到比较早的资料有50、55度的探头。分析最基本的知识，“波束与被检缺陷平面相垂直时，反射效果最好，最有利于缺陷的检出”。今天又看了11345-2013和4730-2005发现两者表述还不太一样，再看新版的47013-2015发现没有说正负两度差值，是不是这个已经不重要了？


那么以前标准规定不能超过正负两度的意义是什么？（以下为个人猜想）



按标准，每次检测前需要校仪器的灵敏度、K值、水平线性等。单说K值，现在的数字机仪器可以生成DAC。但做好DAC后，K值是不变的了。由于磨损，实际K值改变后，对缺陷的定量、定位都会出现偏差（DAC曲线还是按以前的K生成的）。而这个偏差的极限就是正负两度。比如，实测为70度的探头，做好DAC用了一段时间后，实际角度变为68度，这时定位、定量就会有较大影响，必需重新做DAC（但探头还是可以用的）。


无损检测新人，望前辈多多指点。

有个观点需要更正一下 ，标准规定探头角度大于2度不是不能用，是需要重新校准，大于2度不代表缺陷不能检出，主要是考虑定位、定量的误差，会影响缺陷的判断及评定

枫林晚 发表于 2016-8-4 00:28
有个观点需要更正一下 ，标准规定探头角度大于2度不是不能用，是需要重新校准，大于2度不代表缺陷不能检出 ...

嗯，同意您的观点。有您的支持我更加确定。一开始接触标准时，没有理解得透彻。问同事，他们也只是简单说标准规定，时间久了就不满足于这么表面的解释，才有以上的思考过程。

这是美国D1.1规范的解释：

规范对探头使用（频率、尺寸、角度）极为严格的要求是为了保持最佳状况能使结果具可重复性。规范的意图是用表6.6中规定的探头角度和焊缝面来探查焊缝。而采用其他角度或焊缝面可能导致比规范规定的检查更为苛刻。

斜波束探头校准    由于探头的接触表面磨损并引起定位精度降低，规范要求探头最多工作8小时便应校核其精度。此后每一段时间间隔内探头精度校核的责任由进行此项工作的人员承担。

按D1.1的要求，探头角度超过偏差2度，就是不能够用！我国过去的超声波检测标准中对探头的要求，理解和执行都不深入。

王绪军 发表于 2016-8-5 11:31
这是美国D1.1规范的解释：

按D1.1的要求，探头角度超过偏差2度，就是不能够用！我国过去的超声波检测标准 ...

谢谢老师指点。现在才算是弄明白这个问题。

再看新版的47013-2015发现没有说正负两度差值，是不是这个已经不重要了？

你认真看看NBT47013.3

王绪军 发表于 2016-8-10 10:28
你认真看看NBT47013.3

嗯，我又细看了一遍。在后面的规范性附录里找到了。还加了一些要求

在附录B里有对探头的要求，可是我的一个单位领导要求探头要磨出晶片才给换新的。K2的探头校核后有时候都到了K1.5，想想真后怕。

JIAQIDONG 发表于 2016-12-27 08:11
在附录B里有对探头的要求，可是我的一个单位领导要求探头要磨出晶片才给换新的。K2的探头校核后有时候都到 ...

那磨损太严重了。我们一般测出K值偏差较大，就用砂布反向把耦合层磨平，角度偏差就减小，在偏差范围内就继续用

xldw89sy 发表于 2016-12-27 21:48
那磨损太严重了。我们一般测出K值偏差较大，就用砂布反向把耦合层磨平，角度偏差就减小，在偏差范围内就 ...

兄弟哪个公司的