如何测表面缺陷深度

磁粉检测发现表面缺陷，长45mm，φ609.6×90，材质 12Cr1MoVG，用K1、K2均未测出缺陷深度，缺陷可能深度不大，请教有什么方法可以测出深度，

yanyingjuanli 发表于 2015-10-22 22:36
能详细的讲一下怎么做么？

开启射频显示，二次波找到裂纹的角落反射最高波后提高增益（差不多20dB）并开启峰值记忆功能，探头稍往裂纹方向移动，观察角落反射左侧同相位的衍射信号，测量其与角落反射的时间差即可测量出裂纹高度。这个方法有一定盲区，盲区大小取决于角落反射的脉冲宽度，建议用宽带窄脉冲探头，可以减少盲区大小。

测高的话试试衍射波吧

用裂纹测深仪

支持天山，用裂纹测深仪。超声波对这种表面开口的是不好实施。

可否换个检测面呢

是管道，不可能是从内表面，两侧都进行检测，没有任何信号，用二次波也不行，裂纹测深仪不了解，用过的可以给发点资料了解一下，多谢

糟老头子 发表于 2015-10-15 22:23
测高的话试试衍射波吧

衍射波上下表面都有盲区呢

yanyingjuanli 发表于 2015-10-21 21:55
衍射波上下表面都有盲区呢

用脉冲反射法找衍射波

糟老头子 发表于 2015-10-22 11:51
用脉冲反射法找衍射波

能详细的讲一下怎么做么？