TOFD直通波之上的缺陷检出问题

如图，直通波之上有个缺陷A，此种情况缺陷A可否检出？

假如换成下面这幅图，这个缺陷可以检出吗

不可检出，声波到不了

如果声场可以到达的应该可以，能做实验验证一下最好。

furulong 发表于 2015-3-9 12:23
如果声场可以到达的应该可以，能做实验验证一下最好。

我对这个问题疑问了很久了，我们公司也有以色列的TOFD仪器，但是这种试块倒是没有，在工件上就不好去验证了，我觉得工件表面如果足够好的话，应该还是可以的。就是苦于无实物去验证。

糟老头子 发表于 2015-3-6 20:23
不可检出，声波到不了

第二幅可能到不了，第一幅探头相对，加上声波扩散，我觉得或多或少应该是有到达缺陷的波的

紫云烟 发表于 2015-3-9 16:36
第二幅可能到不了，第一幅探头相对，加上声波扩散，我觉得或多或少应该是有到达缺陷的波的 ...

理论和实际会有一定差别的，所以别人说的只是一种参考，最好做个试验验证。

上表面盲区，即使声波到了，也检不出来。

天山 发表于 2015-3-10 08:15
上表面盲区，即使声波到了，也检不出来。

正常情况下是有可能会掩盖在直通波下，滤掉直通波应该还是可以看到的，都是纸上谈兵了

两种情况都检测不到，直通波的定义是从发射探头沿工件以最短路径到达接收探头的超声波，以上两种情况的缺陷都在直通波以外，而TOFD检测所检测的范围在直通波和地面反射波之间，所以无法在有效区域内检测到有效的缺陷信号。

应该不行