[讨论] 关于扫查灵敏度的问题

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liuhonghui | 2014-3-8 21:00:21 | 显示全部楼层
丁伟臣 发表于 2014-3-8 20:49
扫查灵敏度是我们在扫查时并不能确保每个显示被声束中心击中,因为一般采用6分贝声场进行覆盖,故此时应 ...

这个问题依旧可以用分段曲线来回答,仪器有动态范围26db(现在仪器32dB),意味着低于5%(3%)的为全波消失,只要在5%-100%的波峰,就是没有漏检的。没必要提高扫灵敏度,做好分段曲线就行了,再者,可能要说的6dB声束宽度与灵敏度大小无关,探头自身的指标参数。
丁伟臣 | 2014-3-8 21:06:22 | 显示全部楼层
liuhonghui 发表于 2014-3-8 21:00
这个问题依旧可以用分段曲线来回答,仪器有动态范围26db(现在仪器32dB),意味着低于5%(3%)的为全波消 ...

不跟你瞎扯了!
有空看看EN 583-2吧!
伟臣答疑回来啦!
糟老头子 | 2014-3-10 18:47:54 | 显示全部楼层
本帖最后由 糟老头子 于 2014-3-10 18:49 编辑

1、当我们在试块上做好DAC曲线之后,大家总是不假思索的”啪啪啪“提高n个dB就去现场检测去了。正确吗?好像没人怀疑,国内标准这样写的,老师这样教的。我认为可能全错了?
2、当缺陷没有发现,或外行或领导怀疑时,总是会说再提高点灵敏度试试看,好像很专业。但是任何事情都是相对的!
我认为提高n个dB没什么错,只要在评定不连续等级时降下来就可以了:增加dB后,不连续的信号会更容易发现,尤其是对于一些较厚的工件检测,在较大声程处曲线可能很低,缺陷的回波也已是非常的低,不容易识别。增加dB就好像是“增加了信噪比”,之所以加引号是实际上信噪比并不受增益的加减决定。
君不见现在有些设备具有TCG的功能,就是把同样大小不同深度的反射体回波信号(DAC曲线)拉得同样高度。原理类似于此,但又有很多设备不具有此功能,所以我们只得“啪啪啪”了,呵呵。
我们都是在孤单中执著行走的孩子!
梁金昆 | 2014-3-11 16:12:14 | 显示全部楼层
人老了,似懂非懂,稀里胡涂参与讨论----
ASME  V (2010) T—471.4专门对扫查灵敏度水平做了规定:T---471.4.1距离波幅法  扫查灵敏水平的调节应比调好的基准线增益至少高6dB
丁伟臣 | 2014-3-11 16:25:56 | 显示全部楼层
梁金昆 发表于 2014-3-11 16:12
人老了,似懂非懂,稀里胡涂参与讨论----ASME  V (2010版) T—471.4专门对扫查灵敏度水平做了规定:T---471. ...

顶!
伟臣答疑回来啦!
liuhonghui | 2014-3-11 22:24:25 | 显示全部楼层
本帖最后由 liuhonghui 于 2014-3-11 22:40 编辑

谢谢大家参与
liuhonghui | 2014-3-11 22:38:19 | 显示全部楼层
本帖最后由 liuhonghui 于 2014-3-11 22:39 编辑

谢谢大家参与
liuhonghui | 2014-3-11 22:38:20 | 显示全部楼层
本帖最后由 liuhonghui 于 2014-3-12 21:27 编辑

梁老就是活字典,呵呵,谢谢梁老,在这里就是探讨思考, 越辩越明,也是一种乐趣
1、我还是仅代表我的观点;
2,分段曲线很重要,可以不需要提高扫查灵敏度;仪器既然规定动态范围,满足动态范围的信号,只要高于全波消失的的信号,都是定量准确的,既然分段曲线最低放在25%,其这时对应的评定线即为5%(25%乘以20%),在全波消失波之上,定量是没问题的;既然做了分段曲线何必再提高灵敏度扫查!提高扫查灵敏度,结果浅盲区增大,还需增加浅盲区试块,补充检测,还要多钻孔,何苦呢?
2,电子元器件的开关接触电阻的氧化,来回扳动电阻不恒定;切换放大电路时,电容二极管等需要稳定的预热时间才能有稳定的曲线,所以ASME规定仪器周期鉴定,灵敏度校准时机,我认为最好还是校准与检测时保持组合灵敏度状态始终如一,数据才真实可靠;
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