关于扫查灵敏度的问题

显示全部楼层 · 2014-3-8 18:56:23

本帖最后由 liuhonghui 于 2014-3-8 20:32 编辑

1、当我们在试块上做好DAC曲线之后，大家总是不假思索的”啪啪啪“提高n个dB就去现场检测去了。正确吗？好像没人怀疑，国内标准这样写的，老师这样教的。我认为可能全错了？
2、当缺陷没有发现，或外行或领导怀疑时，总是会说再提高点灵敏度试试看，好像很专业。但是任何事情都是相对的！
3、为什么我们的规程翻译成英文，欧美人看不懂，而欧美的超声规程，尤其按照ASME编写的规程尤其简捷？
4、在编写规程时，ASME写的肯定没错；ASME没写的，我们添上去的，可能还要思考？

丁伟臣 · 2014-3-8 20:49:46

liuhonghui 发表于 2014-3-8 20:41
我的回答是肯定的，呵呵

扫查灵敏度是我们在扫查时并不能确保每个显示被声束中心击中，因为一般采用6分贝声场进行覆盖，故此时应额外增加6分贝，确保所有的可能在声束中心达到评定/记录线的显示被发现！

刘超 · 2014-3-8 19:32:48

扫查灵敏度不一定要提高6db
这个要看工件的表面定

liuhonghui · 2014-3-8 19:23:57

本帖最后由 liuhonghui 于 2014-3-8 21:14 编辑

回答第一个问题必须从三方面讲起
1、ASME探伤仪的鉴定周期中的动态范围；比如：20%波高时，增加12dB时，波高理论是80%，而实际允许在64%-96%之间。意味着相差32%都是合格的设备；
2，过程检验中的灵敏度校核；比如：相差大于15%必须重新检验
3、涉及的放大电路与探头的组合灵敏度在所有旋钮组合固定时的唯一性；
延伸问题：
1、那么去掉扫查灵敏度这个概念，缺陷会漏检吗？回答是不会的，分段曲线就是解决这个问题的，当一个规程既要提高dB数作为扫查灵敏度，又要分段曲线，可能逻辑就混乱了，无法自圆其说了。
2、表面补偿dB应在出具报告时再加上后再评定，而不能在扫查时提高dB数，不然破坏了放大电路与探头的组合灵敏度在所有旋钮组合固定时的唯一性。
3、ASME校准试块好像没提到表面补偿的概念，如果需要表面补偿，分段曲线的最低点提高相应的补偿dB数，意味着分段曲线更紧密，也不能随意动仪器旋钮。
4、随意触动旋钮是对校准好的仪器最大的计量破坏。（千万不要以为旋动按钮提高6dB，波高就一定升高一倍，参见上述第1点ASME仪器鉴定合格范围）

liuhonghui · 2014-3-8 20:10:45

刘超发表于 2014-3-8 19:32
扫查灵敏度不一定要提高6db
这个要看工件的表面定

我的意思本来就不应该有扫查灵敏度这个概念，如果非要有这个概念，就是基准灵敏度的数值，前者体现干活时，后者体现在试块校准时

丁伟臣 · 2014-3-8 20:34:20

老刘，回来了吗？
看了你的问题，有点云里雾里，把我都搞糊涂了！
有关传输补偿、记录线、额外补偿等问题，请大家详细阅读EN 583.
关于ASME的规定，有自己的道理，与我们的国情有关，诺诺问一下，如何理解校验试块表面状态代表典型的被检测工件表面状态？我们外面卖的试块可行吗？如有差别，应如何修正？
哈哈！！！