[讨论] 和A超相比较,TOFD最大的优点是什么?

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糟老头子 | 2014-1-22 22:14:05 | 显示全部楼层
@luolang1314 抱歉,我没有在你的链接中找到“在相控阵面前,它测定缺陷高度是没有任何优势的。”
如果你指的是happynation说的“PAUT也可直接测端角衍射了”,看看TOFD的英文全称:Time Of Flight Diffraction。用PAUT的衍射波来测高也是用的衍射时差法。

点评

另外,缺陷测高精度其实和很多因素有关,不仅与检测工艺有关,还和缺陷本身有关,即使做对比试验,也只是一个个案的验证,缺乏统计学上数据  发表于 2014-1-23 07:06
该帖文是之前一次相控阵和TOFD技术的一场讨论。其中明确指出,TOFD的优点是测长。的确未提及在测高方面的比较。  发表于 2014-1-23 07:04
我们都是在孤单中执著行走的孩子!
luolang1314 | 2014-1-23 07:23:55 | 显示全部楼层
未查到相关文献证明相控阵测高精度优于TOFD,上面的说法仅从实际检测当中(TOFD检测和解剖实验)推断而来,所以不够严谨,希望不会误导坛友!
同样的未查到TOFD测高精度比手工超声、PA高的文献。如有,希望坛友们提供一下。
不同检测方式、工艺测定缺陷的高度定量试验也似乎没有,有条件的坛友可以自己动手做一下对比试验,用数据说话,总比理论探讨要实惠得多!
假面 | 2014-1-23 08:41:23 | 显示全部楼层
luolang1314 发表于 2014-1-21 19:39
TOFD最大优点是测长。其它的定量精度皆不是特别高(相对相控阵等,有时也比普通A超低)。最大缺点是盲区太 ...

测量长度上类似手超6dB法吧?不是它的优势吧?
健康身体是基础,良好学风是条件,勤奋刻苦是前提,学习方法是关键,心理素质是保证。
luolang1314 | 2014-1-23 09:04:05 | 显示全部楼层
假面 发表于 2014-1-23 08:41
测量长度上类似手超6dB法吧?不是它的优势吧?

这个怎么说呢?TOFD长度测量在灰度图谱上一般采用的是R弧拟合法确定缺陷长度的端点,原理上类似手工超声6dB法吧;但是由于TOFD采用的探头一般为5M fai 6  60°窄脉冲探头,无论是声场特性、晶片尺寸,还是回波品质都优于手工常规横波斜探头(K2 8*12或13*13),所以在长度方向上的纵向分辨力要优于手工6dB法测长的。
如果定量要求高的手工超声检测,将会采用专用测长、测高的探头(也有专用的扫查缺陷的探头,其定量精度不是特别高),这样会大大提高缺陷尺寸测定水平的。所以,拿TOFD检测和普通手工超声进行比较,有时候并不是在同一个层面上进行比较,容易得出TOFD定位、定量较为准确的结论的。
当然一般情况下,将TOFD定长和手工A超测长进行比较,是基于一定试验和经验的,值得检测人员去了解!
王绪军 | 2014-1-23 10:10:38 | 显示全部楼层
能够测量精确缺陷的高度应该是tofd最大的忧点!欧洲tofd技术应用时间长,但是相控阵技术美国应用得比较多。
ywj010 | 2014-1-23 15:52:16 | 显示全部楼层
TOFD和普通超声相比最最大的优点是可记录。
滚烫的小米粥 | 2014-1-24 09:53:31 | 显示全部楼层
个人意见:tofd测长并不比常规超声精确多少,关于拟合方面全凭计算机计算,与真实情况有差异,TOFD备受推荐应该就是测高,确实比较准,当然对于薄板,越靠近扫查面误差越大,这也是不争的事实。

至于定性,那和射线差不多,反而比射线更需要经验吧。

若真是要分出与射线的优势:
1.个人认为熟练工人操作tofd设备,检测速度要远超射线,我指的是工作量大的。
2.无辐射,对国际项目有优势,老外嘛,满嘴的人权,你们懂的。
3,节省成本,底片真心贵,遇到迷糊的工人,给我废了一大盒子。
4,以后真的取代射线,建设成本要低太多了,随便一个探伤室没有个几百万,不要想了,而tofd设备却越来越便宜。

就说这么多吧,我也是刚取证,不到之处请见谅。
假面 | 2014-1-24 13:08:08 | 显示全部楼层
luolang1314 发表于 2014-1-23 09:04
这个怎么说呢?TOFD长度测量在灰度图谱上一般采用的是R弧拟合法确定缺陷长度的端点,原理上类似手工超声6 ...

谢谢  真没研究这么细  回头再好好研究下
健康身体是基础,良好学风是条件,勤奋刻苦是前提,学习方法是关键,心理素质是保证。
DZTJS | 2014-1-26 09:09:11 | 显示全部楼层
1、缺陷高度的测量是其他方法难以比拟的
2、效率高
枫林晚 | 2014-1-27 09:47:05 | 显示全部楼层
TORD 与A超相比两个优势是很明显的,1:缺陷的检出率;2:缺陷高度的测量。自身的局限性:1:上下表面的盲区;2:缺陷定性困难;3:不适合粗晶材料的检测
好好学习天天向上
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