[讨论] 关于相控阵B型图像--缺陷分析

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查看9061 | 回复7 | 2013-5-30 12:01:29 | 显示全部楼层 |阅读模式
目前相控阵资料在对缺陷分析时,没有很实际的分析例子,只是对典型人工缺陷描述,成像模式,并没有将分析缺陷过程公布!!汗颜!!
最近本人研究相控阵检测了板--板T型和Y型的焊缝..
发现了许多的问题,总结了在检测时应注意的问题;
这里我想说下,在使用相控阵扇形扫查时,我们使用多角度、多条扫描线同时进行一定范围和区域扫查时;
问题1:既然是多角度扫查,在不规则的焊缝形状下,势必存在声束在焊缝中的多反射,造成许多的相关图示;我们应该怎么去区分呢?、
问题2:  怎么样去选择相控阵直探头灵敏度
问题3:相控阵检测时,综合参数的考虑!
大家先讨论一下!回帖必回!!{:soso_e183:}
实验心得,近期公布!!!
糟老头子 | 2013-5-31 21:50:56 | 显示全部楼层
等你公布实验结果咯
一些问题还得标准来规定了
我们都是在孤单中执著行走的孩子!
xxdx512 | 2013-6-4 13:25:40 | 显示全部楼层
希望尽早能看到您的研究成果~~
祝你开心 | 2013-8-20 17:52:34 | 显示全部楼层
我是这么想的,虽然你是同时设置了两组扫查参数,但是仪器其实只同时处理一组数据,然后快速在两个法则中间切换,因而你说的不同法则互相影响的情况应该是不存在的。
个人猜想……
jorsonsh | 2013-9-13 09:03:44 | 显示全部楼层
{:soso_e163:}
为人民服务 | 2013-11-23 14:46:36 | 显示全部楼层
{:soso_e163:}
学好无损检测技术,天天向上!
迷忙的我 | 2015-8-28 11:31:14 | 显示全部楼层
等待结果中。。。。
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