双通道扫查时2通道没有直通波咋设置基准线？咋测量深度...

双通道扫查时2通道没有直通波咋设置基准线？咋测量深度？我单位是以色列的设备……

底波或变形波也可设置

也可通过试块上固定深度的横孔

双次扫查不存在这样的问题。单次双通道扫查存在这个问题。47013送批稿明确需要在对比试块上的人工反射体进行校核。
但我觉得，还是可以增加通道之间的100%覆盖，而不是25%覆盖，在不同对比试块反射体校核的情况下，牺牲一点分辨力，解决这个问题比较合适。特别是厚度不是太大的情况下（小于100mm），比较合适。

通过计算，在对比试块上校验

LUOLANG1314  我试过，做100左右的可以但是做太大的就不太好。我前一段时间做203厚度的，3,4通道就是压缩量太大了，图谱不是很好。 还有就是在试块校验能说的详细一些吗？

我们用的是 ISONIC 2008 之前也有过这个疑问，后来打电话给厂家，说2通道可以直接测量，不用设基准线，经过实际测量，是准的，应该是经过软件处理，内部计算

2007 有这个功能吗？

2007操作说明书里没有这个说明。可能没有这个功能，你可以和 Isonic 代理商联系，询问这个！
不过，我用过中科的机子，也是自动计算将刻度线自行移至参考位置，应该是准确的。但是，我老是不太相信。你可以在调试2007的时候，参考其计算并设置参考位置的方法。对于200mm厚，的确不能采用直通波和底波均可见的方法。否则图谱无法满足相关要求。不过一般双通道，采用合适探头单次分区扫查，也就达到150mm左右，超过150mm就需要单次三通道或者多次分区扫查了。

luolang1314 发表于 2013-5-2 09:18
2007操作说明书里没有这个说明。可能没有这个功能，你可以和 Isonic 代理商联系，询问这个！
不过，我用过 ...

我们用的SIUI的仪器也有这个问题，同问能较详细说一下怎样在对比试块校验吗？谢谢！