请版主帮忙，请教版主专用贴。TOFD版专用。

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版主: allen_hay

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版主简介：中国船级社无损检测试验室，熟悉TOFD技相控阵超声，CCS UTIII，TWI PA II，TWI TOFD II

在此跟帖，版主将尽能力、尽快帮助你~

有人说UTA办不到的事情，TOFD也办不到;UTA办得到的事情，TOFD办得更好，这句话对吗？

请问你所谓的UTA是指A超么?
所谓A超与TOFD的关系我不这样认为，但A超与相控阵之间的关系在某些特定条件下可以这样说。
由于相控阵技术本身的技术原理与常规A超是完全一致的，只是实现手段的不同。相控阵可以成像，A超也可以，只是相对实现的便捷性与灵活性上的差异。A超评定需要大量的经验，相控阵也一样，只是相控阵可以提供给你更多的信息，方便你判断，但其实这些信息在A超里也能找到，只是不好分辨罢了，相控阵技术提供了另一种方式，可以更好的分析与判断。
如果这句话用在TOFD上，确是有些问题。TOFD与A超是完全不同的原理，A超可以方便的定位，但TOFD需要二次扫查；A超几乎无表面盲区，但TOFD盲区较大；TOFD可以实现精确的裂纹测高，A超仅停留在理论层面；等等这些区别还是很大的。
但如果你的UTA指的不是常规超声，那就当我没说，呵呵~
个人意见，欢迎指正。

王老师，你说的UTA，实际上是指AUT(相控阵全自动超声检测系统）吗？

请问版主，PAUT相对于A超究竟有何优势？PAUT有国家标准吗？在那些行业有行业标准？

ghost 发表于 2012-11-13 21:38
请问版主，PAUT相对于A超究竟有何优势？PAUT有国家标准吗？在那些行业有行业标准？ ...

个人觉得主要有以下几点:
1. 数据可存储,可记录
2. 可多截面成像
3. 使用灵活性更大
我想这样表述,不知道意思说的够不够清楚,PAUT可以看作是一个可在一定范围内随意更改探头参数的UT,并且可以把这些UT检测结果通过固定的几何关系进行数字化成像,方便判断.甚至可以实现波束路径的设计.
这里指的探头参数包括波型,角度,晶片大小,聚焦点位置,探头几何位置等一系列内容.
目前PAUT尚无国家标准,行业标准我也没听说,但ASME2010版第V卷中有部分描述.

allen_hay 发表于 2012-11-14 13:38
个人觉得主要有以下几点:
1. 数据可存储,可记录
2. 可多截面成像

谢谢版主{:soso_e183:}我最近在用PAUT检测异形件，我觉得它最大的优点在于使用时，可以方便知道超声波束传播路径，感觉其检出率比较高，而不大适合准确定量。关于灵敏度的问题，探伤灵敏度，扫查灵敏度，评定线灵敏度，定量线灵敏度，有效灵敏度，能否逐个解释一下，如还有其他灵敏度，请一并解释一下，太多整蒙了。

首先分清UTA、PAUT及TOFD的区别，其次按照标准进行相应的检测，否则。。。

ghost 发表于 2012-11-15 22:46
谢谢版主我最近在用PAUT检测异形件，我觉得它最大的优点在于使用时，可以方便知道超声波束传 ...

你所说的这些灵敏度说法我不知道什么标准上有出现过,但是就本质而言,个人认为灵敏度就是一个基准,只是将什么样的回波定为基准回波的问题.在做A超时我们将其分为基准灵敏度和扫查灵敏度,基准灵敏度即从对比试块上完成灵敏度校准后仪器的灵敏度水平（不考虑传输修正）。扫查灵敏度一般会在其基础上有所提高,主要目的是便于发现缺陷,因为在基准灵敏度下评定线高度附近的缺陷显示不易判断,且数字机此时波幅显示精度较差.一般将增益提高10-16dB作为扫查灵敏度，但在定量时依然是以基准灵敏度为准。至于你说的评定线灵敏度，定量线灵敏度，有效灵敏度等可能是为了方便起见，大家想出来的一个说法，由于我确未听别人说过，也未见过出处，所以不好妄加解释。

丁伟臣 发表于 2012-11-16 07:57
首先分清UTA、PAUT及TOFD的区别，其次按照标准进行相应的检测，否则。。。

请教丁工，UTA是指什么，我一直没见过这个简写，有点糊涂。
另能不能附带解释一下ghost的疑问，感谢