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[讨论] 射线检测真的不能定深吗?

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魏鹏 发表于 2013-10-18 10:15:10 | 显示全部楼层
 
{:soso_e163:}
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yuwen 发表于 2013-10-20 10:07:02 | 显示全部楼层
 
射线检测缺陷定深是一个老问题了,上世纪八十年代国内就有人开始试验,但到目前还未见到产品,应用射线检测定深,需要采用平行照相技术,但费用和工作量增大许多。
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卡布奇诺实名认证 发表于 2014-5-28 13:23:45 | 显示全部楼层
 
学习了学习了学习了学习了
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SGS无损检测 发表于 2014-6-5 11:49:21 | 显示全部楼层
 
ゾ銱儿鎯筜 发表于 2013-6-7 16:44
看看EN考证的教材上面说的很清楚

EN哪个标准,你确定是EN的RT标准?
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ゾ銱儿鎯筜 发表于 2014-6-9 19:59:38 | 显示全部楼层
 
确定是EN培训教材里讲到了
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卡布奇诺实名认证 发表于 2014-6-29 21:09:09 | 显示全部楼层
 
我是来学习的谢谢
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枫林晚实名认证 发表于 2014-7-2 14:00:11 | 显示全部楼层
 
TOFD对粗晶材料的检测主要受到信噪比的限制。
好好学习天天向上
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玫瑰镇魂曲 发表于 2014-7-9 00:53:26 | 显示全部楼层
 
射线检测定位深度可能对气孔,夹杂等体积型缺陷比较适用吧,在表面放置一个参照物,通过偏转角度二次拍片、计算可以知道一这类缺陷的深度,但是裂纹比较特殊,其偏转后很难得到理想的图像质量,不知道你的工件能不能切片带出来实验,一个是想帮你尝试下相控阵检测,另外可以尝试下数字胶片的灰度测厚,通过裂纹的灰度差异来算出上端部的位置,但是这些都是想象,没有实验的话不确定可不可以实现。
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