利用X射线标识谱进行元素成分分析

       X射线管内的靶材可以发射和靶材料有关的一系列特征谱——X射线标识谱。
    不同的元素具有各自独特的核外电子排布，因此就会有各自独特的X射线标识谱。
    如果把需要研究的材料当做靶材，用高能电子去轰击它就可以得到各种标识谱。通过标示这些谱线就可以分析出材料中含有的元素成分。而通过谱权重（即特征谱线的面积）的分析就可以大致得出材料中元素的原子配比。
    类似的原理，我们还可以对离子晶体中离子的化学价态进行分析。通过一系列的分析，我们就可以得出新材料的元素组成和原子排布方式，从微观上探测清楚材料的性质。

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