远东无损检测资讯网

标题: 无损检测在线问题解答 [打印本页]

作者: 丁伟臣    时间: 2010-10-10 20:28
标题: 无损检测在线问题解答
倡议在此空间成立无损检测在线问题解答专区,大家将工作中遇到的问题在此晒出,征求解决方案。感兴趣的同仁在此献计献策,共同促进无损检测应用能力和水平的提高!
作者: furulong    时间: 2010-10-11 08:49
这个倡议很好,可以提供相互交流的一个平台,支持!
作者: 强天鹏    时间: 2010-10-11 10:06
支持!参与!
作者: ZMJ    时间: 2010-10-11 11:30
很好的建议!支持
作者: 一级片    时间: 2010-10-30 20:06
支持! 我不懂就在这里问了! 楼上各位大师跟你们混了!
作者: jirenping    时间: 2010-12-10 16:42
关于返修几次才换板,各位大哥有什么标准和工艺?
作者: liurong    时间: 2010-12-21 17:11
思路很好,支持!
作者: xcb526    时间: 2011-1-31 08:40
强烈支持!
作者: George    时间: 2011-3-23 16:18
各位同行好!我现在正在使用ASME标准,遇到可能要在凹面上做超声的问题,不知道ASME 哪里有在凹面上扫查的依据,怎么做,相关的试块和在凸曲面上扫查一样吗?
譬如说从管道内壁用斜探头做环焊缝超声检测,从管道内壁用直探头做附在外壁上的角焊缝等
求答。。。
作者: 李济科    时间: 2011-3-23 17:16
响应、支持!今后我提问的帖子在这里发。希望同行不吝赐教。

作者: xcb526    时间: 2011-3-26 19:25
Me      too
作者: wangdao5178    时间: 2011-4-4 15:58
关于4730中关于深孔的评定的问题,哪几类货什么样的容器属于致密性要求过高的容器?有没有具体的规定比如说毒性介质的或者压力多少的?还有就是究竟什么程度的黑度才算是黑度较大呢?能不能量化来讲,比如比母材大多少或者其他之类的经验值.有个可比性也好心里有底啊,多谢,感激不尽
.
作者: hebutszb    时间: 2011-4-8 22:27
支持并参与
作者: George    时间: 2011-5-12 08:05
最近遇到一个小问题:磁粉检测后会对焊接有影响吗?譬如在焊缝的破口上做常规磁轭MT探伤,会对以后的焊接有电磁影响?如电弧偏吹? 烦各位帮忙解答。

作者: NDT513    时间: 2011-5-13 15:12
支持!参与!
作者: 丁伟臣    时间: 2011-5-16 20:17
由于正常使用磁轭为交流电,在磁轭离开的同时,也就对检测磁化的焊缝/坡口进行了退磁处理,故一般不会对焊接形成影响。
作者: George    时间: 2011-5-24 14:18
大家好!我看了标准对检测面的粗糙度有要求,但是没有看到对检测面的平整度要求,现在遇到这个问题,不知道在哪里可以查到相关要求?
作者: 丁伟臣    时间: 2011-5-24 15:02
何种检测方法?检测仪器?
能否将你遇到的问题详细描述?
作者: George    时间: 2011-5-24 17:28
不好意思,常规的超声检测,表面状况,有点起伏
作者: 丁伟臣    时间: 2011-5-24 19:01
EN1714 第8条规定,检测表面的不平整造成的探头与工件表面的最大间距不应大于0.5毫米。
作者: George    时间: 2011-5-24 20:39
谢谢丁工,这个标准我也看到了,但是现在执行的是ASME标准,不知道ASME标准上有没有相关规定或知识?如果引用EN标准,又变成标准体系变化的问题,不知道EN规定0.5mm这个数值的原理是什么?
另外,我试图从曲面考虑这个问题,参考JB/T4730标准5.1.3.4 检测曲面工件时,如检测面曲率半径R=<W2/4时(W为探头接触面宽度,环缝检测时为探头宽度,纵缝检测时为探头长度),应采用与检测面曲率相同的对比试块。也就是说只要满足R>W2/4时,就不用对比试块,可以认为曲面耦合可以接受的,根据这个公式计算间隙的临界值就行了,不知可否?也不知标准上的公式是怎么来的?

作者: 丁伟臣    时间: 2011-5-24 21:17
ASME V T471.5规定:当焊缝或母材影响检测应进行必要的修磨;
ASME SE 114 6.1.3.3有与EN1714相当的规定,要求不大于0.5毫米,但必须充满合适的耦合剂。

作者: George    时间: 2011-5-26 15:15
哪位同行知道ASME标准对Ir-192透照厚度范围的规定在哪里?小弟找半天只找到对于100KV~500KV能量有2.5~10个半值层的规定。
作者: George    时间: 2011-5-26 15:18
感谢丁工的解答!
作者: 丁伟臣    时间: 2011-5-26 18:15
哪位同行知道ASME标准对Ir-192透照厚度范围的规定在哪里?小弟找半天只找到对于100KV~500KV能量有2.5~10个半值层的规定。
无具体要求,只要黑度和灵敏度合格就行。
作者: George    时间: 2011-5-26 21:43
丁工,我看E94第7条能量的选择,对于100KV~500KV能量照射2.5~10个半值层厚度物质,可以获得满意的结果,而Ir-192相当于400Kv的能量,其钢的半值层为8.9mm,故透照厚度为22.25~89mm之间,是否可以认为是标准的规定?
但是我看到国内的中外标准对比相关论文说ASME标准规定Ir-192透照厚度为>=19mm,所以有疑问?  请多指教。
作者: 丁伟臣    时间: 2011-5-29 14:29
本帖最后由 丁伟臣 于 2011-5-29 14:34 编辑

美标中强调检测结果---演示验证检测工艺是否满足要求---孔型像质计的识别:对比度(至少3边可见)和清晰度(小孔清晰可见)。---故Ir192源的透照范围不应仅限制在20~100毫米,可能更宽。
欧标由于丝型像质计的使用,不能直接获得对比度的信息,因为我们丝的可见是对比度和不清晰度的综合。---故要求过程参数的控制保证一定的检测质量。另:欧标规定一般的检测对象可直接执行检测标准,无须工艺验证。
不同的文化导致不同的规定。其实如果更好的胶片系统或透照工艺的应用,放射源的厚度覆盖范围可能更广,比如在欧标中对应的中心透照特殊规定。

作者: George    时间: 2011-5-30 09:03
谢谢丁工,小弟受教,感激不尽!
作者: George    时间: 2011-6-20 12:23
同行们,请问射线源透照工件,一般情况下,如果源强Ci数过小,致使曝光时间过长,会对射线照相质量产生影响吗,会产生什么影响?(例如不清晰度,对比度等)
作者: 丁伟臣    时间: 2011-6-20 22:04
已回答,见我的留言!
作者: 大侠    时间: 2011-12-20 08:37
{:soso_e179:}
作者: 吕文鹏    时间: 2011-12-20 10:49
好主意!{:soso_e179:}
作者: ZGP    时间: 2011-12-20 11:35
这个倡议很好
作者: zyylrq    时间: 2011-12-20 12:16
主意很好支持!
作者: ranyong    时间: 2011-12-20 23:04
不错的建议!支持!
作者: 王绪军    时间: 2011-12-22 19:32
我提一个问题支持一下。
         对接焊缝超声波检测,发现一缺陷,同一探头,不同厂家的超声波探伤仪检测,最高波幅相差很大;是什么原因?
作者: 丁伟臣    时间: 2011-12-23 20:08
一般来说仪器的特性对所有的常用探头具有一定的稳定性和重复性,即使仪器的脉冲和带宽有别。
工作中曾遇到同样的探头和仪器,在使用一段时间后,同一反射体的回波升高较多的情形----探头晶片破损与基体局部分离,导致阻尼降低!
作者: 王绪军    时间: 2011-12-23 22:51
  可能是我没有说清楚:
          对接焊缝超声波检测,执行GB11345-89标准,发现一缺陷,使用同一探头,2个厂家的超声波探伤仪检测,缺陷最高波幅一个超过判废线,一个仅仅在1区;是什么原因?
作者: 强天鹏    时间: 2011-12-23 23:42
检测前是否用同一对比试块(比如CSK2A或CSK3A)校准过2个厂家的超声波探伤仪?,如果校准过,就不应该出现这一情况!
作者: kuailaira9    时间: 2011-12-28 02:42
提示: 该帖被管理员或版主屏蔽
作者: zxz    时间: 2012-1-10 18:20
强烈支持
作者: 依兰丝柏    时间: 2012-1-15 15:34
本帖最后由 依兰丝柏 于 2012-1-16 08:20 编辑

请教下老师:
数字机水平线性、盲区、分辨力的性能测试如何操作
作者: 下蔡庶民    时间: 2012-2-2 14:52
George 发表于 2011-5-26 21:43
丁工,我看E94第7条能量的选择,对于100KV~500KV能量照射2.5~10个半值层厚度物质,可以获得满意的结果,而I ...

这里提到了Ir-192相当于400Kv的能量,请问这个换算的公式和依据在哪里?
KV与MeV的关系在我们的教材有没有相应的说明?
非常感谢解答。

作者: 丁伟臣    时间: 2012-2-6 20:22
数字机水平线性、盲区、分辨力的性能测试如何操作:
水平线性的测定,数字机与模拟机相同;
盲区和分辨力是仪器与探头组合的性能测定,操作按照不同的标准,在不同的试块上,进行测定,方法中不分数字设备和模拟设备。
作者: 丁伟臣    时间: 2012-2-6 20:30
KV:X管两端高压值
KVp:X管两端高压峰值
MeV:有效能量单位,1MeV为1个电子在1MV高压下获得的最大能量。
Ir-192相当于400Kv的能量,因为其能谱的平均能量为0.355MeV.
作者: NDT无损检测    时间: 2012-2-9 11:18
[b]这个平台号,我以后有问题在此请教。{:soso_e100:}
作者: NDT无损检测    时间: 2012-2-9 11:18
这个平台好的。
作者: 牛牛扭扭    时间: 2012-2-10 21:22
这个平台好的 。

作者: 张合方    时间: 2012-2-13 10:35
支持!
作者: 铁牛7200    时间: 2012-2-14 14:20
这个平台很好,支持一下。
作者: 嘎詠峰    时间: 2012-3-1 11:28
好,多多学习。
作者: 大侠    时间: 2012-3-1 14:29
[attach]2353[/attach]{:soso__5462389604067913156_1:}
作者: szlinxd    时间: 2012-3-3 14:29
请问大家 超声波的探头线的型号有哪些啊?各适用什么样的探头。
作者: NDT无损检测    时间: 2012-3-3 14:35
jirenping 发表于 2010-12-10 16:42
关于返修几次才换板,各位大哥有什么标准和工艺?

要看什么材料,用于什么产品,一般情况不超过三次返修!

作者: NDT无损检测    时间: 2012-3-3 14:39
{:soso_e189:} 支持
作者: NDT无损检测    时间: 2012-3-3 14:42
{:soso_e179:}
作者: 滚烫的小米粥    时间: 2012-3-7 13:54
关于磁粉探伤的小问题。关于磁轭提升力的,现在的单磁轭提升力效验由于磁轭是一边尖角,另一边接触面积比较大,我们一般效验时以哪一侧为主呢
作者: 滚烫的小米粥    时间: 2012-3-7 14:04
再问一下关于超声波或者射线超过三次翻修的处理办法,如果说作废这类的我就不要了,只想问可行的处理意见,请指教。
作者: 丁伟臣    时间: 2012-3-7 20:04
提升力与磁通量有一定的关系,但不一定提升力符合要求,我们检测区域的磁化强度就能达到检测的需要。
在此,应强调在产品制造型式产品时,应测量标准试块上中心区域的磁场强度和提升力,在确保合格后,检测过程中,才可用提升力监控设备的可用性。经实际比对试验,当磁极与工件接触为点接触时,磁化强度大约下降30%左右,你说应该如何呢?
返修次数,不是无损检测问题,是焊接工艺问题,从焊接工艺基础知识将,不同的材质可能承受不同次数的返修。但作为法规,我们不能知法犯法,一些书本上的东西没有写入法规,或经过验证,慎用。
作者: 滚烫的小米粥    时间: 2012-3-9 08:01
也就是说提升力并不是考量是否能检出缺陷,而是应该有标准试片来衡量,对吗?我个人觉得提升力只是校验设备的一个参数。另外测量提升力指的是点接触吗?还有 现在的磁探机磁轭做成一面尖角,一面钝角的,按照我个人习惯是接线端在小指头后,这样拉磁探机时感觉磁力不是很足,想问一下这种设计是我握法有问题吗,用灵敏度试片两者也都一样。
作者: 丁伟臣    时间: 2012-3-9 11:21
验证磁粉检测系统的综合性能的方法中,标准试片仅是其中的一种,最佳的方法是使用带有临界缺陷的实际工件。点接触设备在实际应用中应避免使用因为不佳的磁化效果。如感觉到磁力不足,检测应立即停下。
作者: qdgt    时间: 2012-5-2 12:44
互通有无,互相学习,共同进步,绝对支持!
作者: zyylrq    时间: 2012-5-2 17:21
强烈支持!!!
作者: zyylrq    时间: 2012-5-2 17:25
丁工您好!请问底片曝光后受折,他们留下的痕迹都是黑色的影像,这是什么原因?
作者: 丁伟臣    时间: 2012-5-2 17:34
压力作用引起增加额外的曝光,从而增加了局部的黑度!
作者: zyylrq    时间: 2012-5-2 17:53
压力也能使底片曝光吗?(光子或电子才能使溴化银感光吗?)
作者: 阿德哥    时间: 2012-5-6 16:39
顶一下!
作者: zyylrq    时间: 2012-5-7 22:34
[attach]2799[/attach]
丁工!这个问题答案红笔标的第一句应该是测定缺陷的长度吧!红笔标的杂乱波峰是指缺陷反射波有多个高点的意思吗?
作者: 丁伟臣    时间: 2012-5-8 19:46
这是缺陷测高的方法,多点指的是缺陷反射有多个峰值的意思。但该方法有一定的难度,主要是缺陷不是我们想象的那么规则,而且回波的峰值不一定是缺陷的端点,因为在上端点可能存在这样的端点,但在下端点,就不一定了。故该方法仅是大致的缺陷高度测量方法,主要要于与测试面垂直的裂纹类缺陷的高度测量!
作者: qdgt    时间: 2012-5-9 18:57
完全赞同,坚决支持,热烈拥护

作者: zyylrq    时间: 2012-5-9 19:04
丁工!这两个问题中讲到的堆焊方向相对母材一般是怎么走向?另外未贴合方向和堆焊方向的关系?
作者: 丁伟臣    时间: 2012-5-9 19:45
有些道理,但不完全!
如果确实要求检测基层裂纹,应增加斜探头扫查!
对于堆焊层中焊接缺陷和与基层的熔合类缺陷,双晶探头的晶片中间分隔线应平行于焊接方向,同时扫查方向垂直于焊接方向,主要考虑检测纵向缺陷,如条渣和未熔合类缺陷。
对于检测基层缺陷,一般为裂纹类,扫查方向并不重要,关键是扫查角度了!
如怀疑有裂纹类在堆焊层,最佳的方案是70度或45度斜探头多角度扫查!
作者: wobuhuaxin999    时间: 2012-5-11 10:07
丁工  你好   我对超声探头这个波形转换不懂  不是横波不能在液体中传播吗?   那么加了耦合剂怎么探的呢?
作者: zyylrq    时间: 2012-5-14 21:34
丁工您好!请问在容器封头或筒体挖补一个圆形焊缝,确定一次透照长度是按纵缝还是环缝,我认为按纵缝比较好,因为K值控制的严格。
作者: zyylrq    时间: 2012-5-16 17:54
丁工!潜影中的被还原的银与显影后还原的银有什么区别?为什么潜影不可见!
作者: lilingjian    时间: 2012-5-22 09:00
标题: 空气比释动能率的实际应用
本帖最后由 lilingjian 于 2012-5-22 12:41 编辑

想请教大家个问题,探伤工作中用到的计算公式经常有空气比释动能率这个概念,而在我们探伤工作辐射防护的应用当中,是否可以大致把它看做和辐射剂量率的含义一样?比如说离γ源10米处的空气比释动能率是2mGy/h,那么人在这个地方所受辐射的当量剂量率也是2msv/h吗?现行标准规定工作人员每年平均有效剂量限值是20msv,那么工作人员在这个地方一年最多能呆几个小时呢?是否可以这样计算:20除以2(2是距源10米处的比释动能率)等于10,也就是说工作人员一年最多在那个地方累积工作10小时,我的理解正确吗?
作者: dezhou332211    时间: 2012-5-22 10:16
哪位有或者了解超声波在材料表面传播与材料体内传播的理论?我想弄明白超声波速度在材料表面和体内的异同(及其是否存在定量关系)。先说声谢谢!!
作者: XYZ    时间: 2012-5-22 12:11
345B方管对接,壁厚8毫米,J502焊条,V型坡口,坡口间隙4-5个毫米,有衬垫,第一道焊接后,熔池和母材处整条开裂,什么问题?我认为是衬垫的原因(衬垫与方管内壁不紧贴,导致溶滴在固化的同时,往不紧贴的地方流失,连同焊缝收缩的因素,导致开裂,希望有经验的讨论下,有没我说的这种可能?

作者: 星火    时间: 2012-5-22 20:02
很好的建议,支持
作者: 贺树春    时间: 2012-5-29 16:46
强烈支持

作者: 检验计划    时间: 2012-5-29 18:54
支持,中国的无损检测需要这样一个高水平平台。
作者: 阿s    时间: 2012-6-1 23:55
复合板的片子厚度是算基层还是基层+复合层呢?
作者: "Five_Day~~    时间: 2012-6-6 09:16
请问下现在考证分地区吗? 就是我一rt2级证是在湖南考的,但是在江苏的单位工作并注册。那我现在要考ut2级 还可以回湖南考吗??
作者: 周小梦    时间: 2012-6-8 09:38
丁工,你好,我有一个问题想向你请教,胶片颗粒度通俗的怎么理解这个概念,它与什么有关?胶片上的颗粒度是卤化银,底片上是银,这两者有什么联系和区别。
作者: Endlesslove    时间: 2012-6-8 16:32
顶,支持
作者: songlebin    时间: 2012-6-10 16:52
坚决支持
作者: 丁伟臣    时间: 2012-6-10 18:51
丁工,你好,我有一个问题想向你请教,胶片颗粒度通俗的怎么理解这个概念,它与什么有关?胶片上的颗粒度是卤化银,底片上是银,这两者有什么联系和区别。
回答:胶片颗粒度是人眼观察是,底片上总的溴化银颗粒分布的总体感官,它于本身溴化银颗粒、曝光条件、显影条件、显影程度、射线能量等有关,溴化银颗粒是形成胶片颗粒度的基本单位!
作者: szy    时间: 2012-6-12 10:47
{:soso_e179:}
作者: 德德    时间: 2012-6-26 18:55
本帖最后由 德德 于 2012-7-12 07:42 编辑

{:soso_e100:}各位老师。请教6毫米8毫米10毫米钢板双晶探头的焦距如何选择。标准上有什么要求。做钢板探伤。
作者: 剑侠    时间: 2012-6-27 08:27
强烈支持

作者: Endlesslove    时间: 2012-6-27 13:11
{:soso_e179:}
作者: dezhou332211    时间: 2012-6-28 10:12
哪位知道超声波在物件表面传播和物件内部传播的异同及有无数值关系?谢谢
作者: dezhou332211    时间: 2012-6-28 10:13
有这方面资料的请传一份给小弟好么?谢谢
作者: qhming    时间: 2012-7-3 11:32
请教:为何在GE的UT培训资料上探头发出的超声束图形与特种设备教材的不一样,什么原因?见图片附件
作者: 晨风    时间: 2012-7-7 09:31
丁工,管径大于500且有两个及以上丁字缝的压力管道,抽检比例是10%,按要求抽拍一个丁字缝就可以了,然而有的人又坚持每个丁字缝都要抽查,是这样么?有哪个标准规范上有说明?谢谢!
作者: Endlesslove    时间: 2012-7-8 09:39
{:soso_e163:}
作者: L249890962G    时间: 2012-7-9 17:26
强烈支持,好想法,如果有问必答那就太好了
作者: 丁伟臣    时间: 2012-7-10 09:18
qhming:GE的资料是正确的!
晨风:一般来说T字缝应100%检测,而且不应计算在抽查比例中,可能我们的规范没表述清楚。
作者: qhming    时间: 2012-7-10 11:18
丁伟臣 发表于 2012-7-10 09:18
qhming:GE的资料是正确的!
晨风:一般来说T字缝应100%检测,而且不应计算在抽查比例中,可能我们的规范没 ...


丁工,您好:请教-为什么会出现这种差异呢?难道特种设备的教材错了

作者: 丁伟臣    时间: 2012-7-10 16:33
教材没错,只不过是表达的意义不同,我们教材表达的通用探头通常情形简化分为不扩散区和远场,GE表达的是特定的探头按照6分贝测得的声场分布。




欢迎光临 远东无损检测资讯网 (http://www.fendti.cn/) Powered by Discuz! X3.4