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标题: 不同探头检测出缺陷大小差异较大 [打印本页]

作者: zhl469429063 时间: 2018-12-3 15:04
标题: 不同探头检测出缺陷大小差异较大
有一个工件，同一台机器用BS4作DGS曲线测得的当量约φ1.5mm，但是用B2S测得却有φ3mm左右，有大神能解释下可能的原因吗？

作者: 杨会敏 时间: 2018-12-5 13:44
换探头必须重新做曲线

作者: zhishixiang 时间: 2018-12-7 00:01
我允许你重新组织语言，表达你的想法。

作者: 13701722195 时间: 2018-12-7 09:49
差别会有，但不会向你说的这么大，找找自身原因

作者: zhl469429063 时间: 2018-12-7 14:52

杨会敏发表于 2018-12-5 13:44
换探头必须重新做曲线

是重做的，没表达清楚

作者: zhl469429063 时间: 2018-12-7 14:54

zhishixiang 发表于 2018-12-7 00:01
我允许你重新组织语言，表达你的想法。

有一个工件，发现一个点状缺陷，使用同一台机器用BS4作DGS曲线测得的当量约φ1.5mm，但是用B2S同样做DGS曲线测得却有φ3mm左右，有大神能解释下可能的原因吗？ .................................不好意思，表达的不好

作者: 缺欠 时间: 2018-12-8 16:26

zhl469429063 发表于 2018-12-7 14:54

请问一下你的工件两端面平行或是有点倾斜的，是圆柱体吗？在什么距离检测到的？工件结构复杂吗？

作者: zhl469429063 时间: 2018-12-10 16:27
[attach]15178[/attach]图示位置

作者: 缺欠 时间: 2018-12-28 20:11
我估计你检测到的深度在45毫米左右？如果是那我知道原因。

作者: nde7225030 时间: 2019-1-4 13:25

作者: zhl469429063 时间: 2019-4-22 16:08

缺欠发表于 2018-12-28 20:11
我估计你检测到的深度在45毫米左右？如果是那我知道原因。

如果是怎么解释？但是实际不是，要200mm多

作者: 缺欠 时间: 2019-4-25 18:22
你图中是轴向检测，解释不了，只能是侧壁产生的伪缺陷。之前说45是因为此声程附近低频2比高频4MHZ声束窄。

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