材质名称 | 超声探头频率(MHz) | 测量深度范围(mm) | 备注 |
钢 | 5 | 1.28 | |
铝 | 5 | 1.37 | |
铜 | 5 | 1.03 |
超声信号发射性能参数 | |
脉冲重复频率(PRF) | 最高可达10KHz |
激励电压 | 矩形脉冲100v、300V |
脉冲宽度 | 脉宽不超过1ns,在20ns~2us范围内以0.5ns的步进可调 |
匹配阻抗 | 在20~500欧姆范围内以5欧姆的步进可调 |
超声信号接收调理性能参数 | |
增益调节 | 线性放大系统,0~100dB,0.2dB步进量 |
高通滤波 | 截止频率0.5MHz、1.0MHz、2.0MHz、5.0MHz和7.5MHz |
低通滤波 | 截止频率 25MHz |
匹配阻抗 | 在20~500欧姆范围内以5欧姆的步进可调 |
超声信号分析处理性能参数 | |
检波方式 | 全波、正半波、负半波和RF信号中四选一 |
信号抑制 | 线性放大系统,0~100dB,0.2dB步进量 |
材料数据库 | 500 ~15,000 m/s,可从控制台人工调节或选择; |
A/D采样 | 探伤使用16 bits,100 MS/s;应力分析12bits,2.5GS/s |
视频滤波 | 软件跟踪,跟踪速度分档可调 |
动态滤波 | 跟踪动态检测对象所造成的基础电平的变化,剔除毛刺噪声 |
DAC/TCG/GCG | 可存储16条DAC或TCG曲线,每条最多1024点,1/65536分级可调;每个检测周期最大可选4种DAC曲线作为参考;GCG单独门控增益可设. |
A-SCAN显示 | 实时动态显示512点 |
闸门性能参数(应用于探伤) | |
独立闸门个数 | 4(5)个 |
同步方式 | 触发同步和始波同步二选一 |
浮动门 | I门浮动跟踪可选 |
起始范围 | 在0.02~500us范围内以0.001us的步进可调 |
闸门宽度 | 在0.02~500us范围内以0.001us的步进可调 |
闸门高度 | 在0~100%范围内以0.1%的步进可调 |
报警逻辑 | 正逻辑和负逻辑二选一 |
报警可靠系数 | 0~15 |
门-门(测厚) | B-A门 |
测厚计算精度 | 0.37ns*材料声速 |
厚度测量值显示 | 最大值、最小值和平均值 |
报警输出 | 可选,最多8项,由用户自定义 |
① 充电接口(DC24v), 直流电源接口
② LAN:10M/100M以太网口
③ BNC探头接口:T/R收发一体超声探头接口(一般用于探伤)
④ BNC探头接口:T收发分离超声探头接口
⑤ USB接口,直通主控制器
⑥ USB接口,直通主控制器
主项 | 子项 | 性能参数 |
系统参数 | 处理器 | Intel i5-4200U |
内存 | 4GB DDR3 | |
磁盘 | 板载 32G,支持 SATA2.5"SSD、HDD 扩展 | |
显示接口 | 支持 HDMI 和 VGA | |
I/O 接口 | 网口 | 2*RJ-45 |
音频 | LINE-in/out 端口 | |
USB | 接口面 2 个 USB2.0 和 2 个 USB3.0 | |
串口 | 1*RS-232/485 | |
触摸屏 | 显示屏 | 10.4"VGA TFT LED |
分辨率 | 1024x768 | |
亮度 | 350cd/m2 | |
对比度 | 600:1 | |
最大色彩 | 16M | |
显示面积 | 304.13x228.10mm | |
反应时间 | 8ms | |
像素距离 | 0.297x0.297 | |
最大视角 | (H)160/(V)160 | |
类型 |
方法 | 原理 | 适用对象 | 优缺点 |
X射线衍射法 | 根据布拉格定律2dsinθ=nλ,当受力时d会发生变化,通过X射线谱位偏移的大小计算应力 | 常规法:弹性各向异性的同性晶态材料。侧倾法:脆性、不透明材料 | 1)无损、准确、可靠; 2)成本高; 3)射线穿透能力有限,只能测量样品表层几微米厚度的应力; 4)存在辐射,长期操作人员有存在职业病 |
中子衍射法 | 与X射线衍射法类似,通过研究衍射束的峰值位置和强度来获得应变和应力 | 复合材料、多相材料等 | 1)无损、穿透能力强; 2)空间分辨率可达到毫米量级; 3)可以测量材料内部的残余应力; 4)成本高,无法用于现场测量; 目前国际上稳态堆上用此方法进行材料内部应力测量,但未广泛开展使用 |
磁测法 | 利用铁磁材料的磁致伸缩效应将应力的变化转化成可以测量的电量来测量应力 | 铁磁性材料 | 仪器轻便、操作简单、测量速度快,但此法只有用于铁磁性材料,且对材料结构等因素也较敏感 |
Stoney公式法 | 利用Stoney公式通过测量镀膜前后材料曲率半径的变化计算残余应力。 | 悬臂梁法:适合基片弹性好、厚度均匀、薄膜厚度与样品长度比值较小的器件;基片曲率法:主要应用于基底是圆形或长方形的材料 | 无损、可用于现场测量 |
剥层曲率半径法 | 对基片采用双层镀膜,通过测量曲率的半径变化,利用Stoney公式计算应力 | 硬质薄膜材料 | 工艺相对繁琐,不适合现场测试 |
盲孔法 | 通过钻孔释放样品应力,通过测量应变计上的应变利用弹性理论计算应力 | 各向同性的弹性材料,对一般金属材料要需要修正计算方法 | 操作繁琐、测量精度高,但对构件造成损伤,并且粘贴应变片需要一定的工艺要求 |
裂纹柔度法 | 释放被测物的残余应力,通过测定相应的应变、位移或转角等量值,计算分析残余应力 | 各种热(冷)轧板材表层与全厚应力分布 | 应变测量元件的灵敏度大,具有更好的敏感性和精确性,但测试误差有待研究 |
纳米压痕法 | 采用硬度试验方法、借鉴盲孔法的应变测量思想、根据应力场干涉理论而形成的一种全新的残余应力测量方法 | 薄膜材料 | 有极高的力分辨率和位移分辨率、能连续记录加载和卸载期间载荷位移的变化 |
溅射深度剖析法 | 应力致扩散前后的深度剖面发生变化 | 薄膜材料 | 需在薄膜内产生较大的应力,深度剖析有较高的深度分辨率,目前该方法还没有任何报道 |
蓝精灵 发表于 2018-3-22 16:39
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