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标题: 关于试块问题 [打印本页]

作者: 缺欠 时间: 2018-3-8 08:39
标题: 关于试块问题
本帖最后由缺欠于 2018-11-4 08:01 编辑

不知道大家有没有碰到过天天要用的试块（一组同一材质同一厂家不同厚度），在用低频探头测厚度时达某一基准波高（例如80％）能用，而用高频探头测厚时却发现厚的能测（例如220mm）薄的测厚时都衰减了（例如110mm），只有时基线显示。整个测试过程分贝值没变。请问大家这组同材质不同厚度的长横孔试块我该用什么方法来解决现场实际探伤的校准（长横孔探伤校准）？

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