相控阵仪器如何进行校验？
我们知道常规的A扫描超声检测仪器需要对其“水平线性，垂直线性，动态范围，盲区，分辨力，灵敏度余量”等进行测试，以判断仪器是否达到标准。相控阵也是基于A扫描的原理，那么相控阵如何进行校验呢？校验的内容是否也是上述几种？ 或者还有其它校验的内容？请各位高手不吝赐教，谢谢 本帖最后由 happynation 于 2012-6-25 01:20 编辑糟老头子 发表于 2012-6-24 22:02 static/image/common/back.gif
E SCAN :受教了；
VPA：只要是相控阵，都有VPA这个感念。S CAN中，是有固定的虚拟探头孔径（大多数相控阵 ...
VPA 只有L-SCAN才有S-SCAN里面直接用角度度数命名而不是VPA你说的16，32那个叫element中文叫单元VPA准确的叫法是虚拟探头窗口A=Aperture中文翻成窗口你可以去看看窗口和单元的关系一个VPA可以由好几个单元组成的VPA可以看作是L-SCAN里面虚拟探头 而不是探头里面的单元 还有128 256那个叫channel 通道 这些都是基本概念 你要搞清楚才行
水平线性和垂直线性都是仪器的性能所以你只要用一个探头校验就行了 你校验传统仪器的线性会用45 60 70分别去校验一次么：）
至于探头的性能你只要观察S-SCAN图像不就好了 ？
至于那些分辨力的概念 你探头放置的那个表面就是近表面底面就是远表面轴向和角度分辨力 你顾名思义就行了
综合来看你有些基本概念不够清楚啊：）
这些都是很简单的问题你基本概念很清楚的话 很多问题都迎刃而解了
特殊技术的仪器校验仍处于空白阶段，好帖！支持！ 你这么问估计应该没怎么过PAUT吧
目前来说
各家的仪器校验是不一样的 不过声速声程肯定是每个仪器都必须校验的接下来各家可能就不同了
比如奥林巴斯 除了 声程声速 还有 探头延迟灵敏度校验
SIUI 则是直接从S-SCAN的图像来校验
你这种问题问了 没什么太大意义
你没做过的话跟你说了 你也不明白的 happynation 发表于 2012-6-22 21:18 static/image/common/back.gif
你这么问估计应该没怎么过PAUT吧
目前来说
各家的仪器校验是不一样的 不过声速声程肯定是每个仪 ...
我说的不是校准，请注意：是校验是对机器性能的检验 糟老头子 发表于 2012-6-23 15:06 static/image/common/back.gif
我说的不是校准，请注意：是校验是对机器性能的检验
晕死
第一次听到 还有校准和校验两个属于的区别 麻烦你解释一下他们各自的定义吧
校验只包括 仪器性能？探头性能如分辨力波束等不需要校验的 ？
按照ASME的规定在PAUT里面是需要校验 focal law（探头聚焦规则）的
奥林巴斯的探头延迟校验和灵敏度校验就是对聚焦规则的校验
而SIUI 则没有这两个步骤他聚焦规则校验是直接通过计算然后对具体图像进行校验
目前PAUT的聚焦规则校验也就是一说 规范要求你进行聚焦规则校验但是具体步骤没有规定 因为各家的仪器校验步骤差别很大
我跟你说了 你要是没做过将给你听 你也是不理解的 就像我说的说 延迟校验 灵敏度校验 或者 E-SCAN S-SCAN L-SCAN 或者VPA 这种你要是没做过 你确定你懂我在说什么意思？
HAPPYNATION不要曲解别人的意思，我们谈论的是仪器本身的周期校验，而你讲的是每次检测前系统的校准。现在有哪个标准规定了PAUT的仪器校验？请指出！ 丁伟臣 发表于 2012-6-23 21:22 static/image/common/back.gif
HAPPYNATION不要曲解别人的意思，我们谈论的是仪器本身的周期校验，而你讲的是每次检测前系统的校准。现在 ...
ASME VArticle4的 强制性附录4里面有说到
除了常规的要求以外还有要求聚焦规则和声束的校验 但是写的很模糊
然后 非强制性附录 E 里面有提供一个试块但是也没有具体的要求 就说跟实际的尺寸对比
所以我的理解是计算机成像技术的UT满足 一般数字机的要求就行了 还有跟实际的缺陷对比就行了 SIUI有一个专门的试块测试仪器性能的挺不错的 但是我问他们是根据哪个标准做的他们很含糊的说是ASME但是我看了跟ASME并不一样 国外的培训中心也有 试块 但是也是自制的
happynation 发表于 2012-6-23 21:02 http://www.fendti.cn/static/image/common/back.gif
晕死
第一次听到 还有校准和校验两个属于的区别 麻烦你解释一下他们各自的定义吧
校验只包括 仪器性 ...
奥林巴斯的仪器，举个例子：Epoch 1000i。校准的步骤分三步：声速，探头延迟，增益。
首先先校准声速，然后进行延迟和增益的校准。先后顺序无所谓。但想要得到精确的探头延迟校准，可在声速后先校准增益。
校准声速：校准声波在工件中传播的速度；
校准探头延时：因为相控阵是由多个角度组成的一束声束，所以每一个角度在楔块中传播的距离是不相等的，校准延时的作用就是为了让每条声束从进入工件那一时刻开始算起；
校准增益：如第二条所述，相控阵是一个发散的声束，其间有多个角度。所以每个角度在工件中传播的时间不等，因此会造成在同一深度，各个角度看到的不连续图像会不一样。具体表现为：小角度的波高大于或小于大角度的波高（小于还是大于要看近场区的分布情况）
我只是想问问相控阵的仪器该怎么“校验”，就像我们常规的A scan仪器要校验水平现行和垂直线性等。可能我的用词不准确。明白意思就好。当然我所谓的校验是对仪器和探头整个性能的检验。
您对相控阵熟悉，还请多加指点。谢谢 A SCAN:常规A扫描
B SCAN:侧视图
C SCAN:顶视图
E SCAN:不知，请指教
L SCAN:侧视图线性扫描
S SCAN:端试图 扇形扫差
VPA:虚拟探头孔径，是把多少个晶片作为一个“虚拟探头”来一次激发超声波 糟老头子 发表于 2012-6-24 04:36 static/image/common/back.gif
A SCAN:常规A扫描
B SCAN:侧视图
C SCAN:顶视图
E-SCAN 就是电子扫描的意思一个探头里面通过电子控制形成不同的虚拟探头进行扫描
VPA 则是特指L-SCAN里面的虚拟探头S-SCAN里面是没有VPA这个概念的
L-SCAN是指线性扫查
S-SCAN 则有两个含义可以指扇形扫查 也可以指端视图
测试的时候当然一开始你要输入探头 楔块的型号然后制定一个检验方案 根据检验方案输入聚焦规则
校验部分 首先校验声速接着是校验探头延迟然后是灵敏度校验（就是你说的增益校验）再做一个至少三点的TCG 最后优化显示窗口 就可以开始进行检测了 按照你的表述你前面的步骤及其作用都明白了啊你说的三步做完了 再做一个TCG就可以了 优化窗口是不是做其实也没太大关系
PAUT的仪器性能校验一般传统UT需要做的PAUT都需要做另外PAUT还有些特殊要求比如 周向分辨力 角度分辨力 远表面 近表面分辨力包括上面提到的探头延迟灵敏度校验 但是 这些参数除了 探头延迟和灵敏度校验有推荐数值以外其他的参数貌似没有看到具体规定只能说用来测试你仪器的极限性能是多少但是并非有强制规定
其实根据我的理解 PAUT的性能只要达到传统UT的那些要求目前来看就算是合格的了 然后你对比图像和真实的人工缺陷能够对上就行但是容许多少误差没有看到相关规定 一般来说不会有很多误差 因为 图像都是基于A-SCAN生成的 而A-SCAN的准确性你已经检查过了